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公开(公告)号:CN105274483B
公开(公告)日:2018-02-27
申请号:CN201510632802.9
申请日:2015-09-29
Applicant: 扬州大学
Abstract: 本发明公开了一种负热膨胀材料Sc2W3O12薄膜的制备方法。属于无机功能薄膜材料制备技术领域,其特征在于:采用固相法制备了Sc2W3O12陶瓷靶材,利用制备的Sc2W3O12陶瓷靶材以射频磁控溅射法沉积制备薄膜,在900‑1100℃温度下热处理后制备负热膨胀Sc2W3O12薄膜。本发明的优点在于利用射频磁控溅射法制备Sc2W3O12薄膜的负热膨胀响应温度范围宽,负热膨胀性能稳定,薄膜质量好,且制备温度低、无需淬火、热处理工艺简单,制备过程具有良好的可重复性,易于实现工业化。
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公开(公告)号:CN107235726A
公开(公告)日:2017-10-10
申请号:CN201710345736.6
申请日:2017-05-17
Applicant: 扬州大学
IPC: C04B35/495 , C04B35/622 , C04B35/626
CPC classification number: C04B35/495 , C04B35/622 , C04B35/62645 , C04B2235/3217 , C04B2235/3224
Abstract: 本发明公开了一种负热膨胀陶瓷材料Al2‑xScxMo3O12及其制备方法。其中0.35≤x≤0.45。属于无机非金属负热膨胀功能材料领域,该负热膨胀Al2‑xScxMo3O12陶瓷材料以分析纯Sc2O3、Al2O3和MoO3为原料,采用分步固相烧结法制备,按照一定的摩尔比通过对原料氧化物称量、混料球磨、成型、分布预烧最终在750‑800℃烧结,制备得到的斜方相负热膨胀材料Al2‑xScxMo3O12陶瓷,不含杂质相,结构致密,在室温到其熔点温度范围内具有稳定的负热膨胀性能。例如Al1.6Sc0.4Mo3O12陶瓷在室温到700℃的温度范围内,其线热膨胀系数为‑2.19×10‑6/K,热膨胀曲线近乎线性,无相变发生,热膨胀性能稳定,具有较好的负热膨胀性能,同时本发明所提供的制备负热膨胀材料Al2‑xScxMo3O12的制备方法较为简单,制备周期短、成本低、环保无污染,因而具有较好的应用前景。
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公开(公告)号:CN105177511B
公开(公告)日:2017-11-17
申请号:CN201510631552.7
申请日:2015-09-29
Applicant: 扬州大学
Abstract: 本发明公开了一种负热膨胀材料Sc2Mo3O12薄膜的制备方法。属于无机功能薄膜材料制备技术领域,具体方法是采用脉冲激光法制备负热膨胀Sc2Mo3O12薄膜。本发明的优点在于利用脉冲激光沉积法制备Sc2Mo3O12薄膜,该Sc2Mo3O12薄膜负热膨胀响应温度范围宽,性能稳定,且制备温度低、无需淬火、热处理工艺简单。脉冲激光沉积法沉积的Sc2Mo3O12薄膜和靶材的化学成分保持良好的一致性,同时逸出粒子具有较大的能量有利于薄膜生长,制备薄膜质量高,制备过程具有良好的可重复性。
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公开(公告)号:CN105331935A
公开(公告)日:2016-02-17
申请号:CN201510632801.4
申请日:2015-09-29
Applicant: 扬州大学
CPC classification number: C23C14/28 , C23C14/083
Abstract: 本发明公开了一种负热膨胀材料Y2W3O12薄膜的制备方法。属于无机非金属负热膨胀功能材料领域。本发明的负热膨胀Y2W3O12薄膜是采用自制的Y2W3O12陶瓷靶材,利用脉冲激光沉积法制备并在沉积仓内于900-1100℃原位退火制备得到,该Y2W3O12薄膜响应温度范围宽,负热膨胀性能稳定,且制备温度低、无需淬火、热处理工艺简单。脉冲激光沉积法使沉积的Y2W3O12薄膜和靶材的化学成分保持良好的一致性,同时逸出粒子具有较大的能量有利于薄膜生长,原位退火后制备薄膜质量高,制备过程具有良好的可重复性、制备周期短、成本低,具有良好的应用前景。
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公开(公告)号:CN105254297A
公开(公告)日:2016-01-20
申请号:CN201510632044.0
申请日:2015-09-29
Applicant: 扬州大学
IPC: C04B35/495 , C04B35/622
Abstract: 本发明公开了一种负热膨胀陶瓷材料ScxIn2-xW3O12及其制备方法。其中1≤x≤1.2。属于无机非金属负热膨胀功能材料领域,该负热膨胀ScxIn2-xW3O12陶瓷材料以Sc2O3、In2O3和WO3为原料,采用固相法制备,按照一定的摩尔比通过对原料氧化物称量、球磨、成型和在950-1200℃烧结,制备得到的负热膨胀材料ScxIn2-xW3O12陶瓷结构致密,在室温到其熔点温度范围内具有稳定的负热膨胀性能。例如ScInW3O12陶瓷在室温到700℃的温度范围内,其线热膨胀系数为-5.97×10-6/K,热膨胀曲线近乎线性,无相变发生,热膨胀性能稳定,具有较好的负热膨胀性能,同时本发明所提供的制备负热膨胀材料ScxIn2-xW3O12的制备方法较为简单,制备周期短、成本低、环保无污染,因而具有较好的应用前景。
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公开(公告)号:CN105177511A
公开(公告)日:2015-12-23
申请号:CN201510631552.7
申请日:2015-09-29
Applicant: 扬州大学
Abstract: 本发明公开了一种负热膨胀材料Sc2Mo3O12薄膜的制备方法。属于无机功能薄膜材料制备技术领域,具体方法是采用脉冲激光法制备负热膨胀Sc2Mo3O12薄膜。本发明的优点在于利用脉冲激光沉积法制备Sc2Mo3O12薄膜,该Sc2Mo3O12薄膜负热膨胀响应温度范围宽,性能稳定,且制备温度低、无需淬火、热处理工艺简单。脉冲激光沉积法沉积的Sc2Mo3O12薄膜和靶材的化学成分保持良好的一致性,同时逸出粒子具有较大的能量有利于薄膜生长,制备薄膜质量高,制备过程具有良好的可重复性。
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公开(公告)号:CN105274483A
公开(公告)日:2016-01-27
申请号:CN201510632802.9
申请日:2015-09-29
Applicant: 扬州大学
Abstract: 本发明公开了一种负热膨胀材料Sc2W3O12薄膜的制备方法。属于无机功能薄膜材料制备技术领域,其特征在于:采用固相法制备了Sc2W3O12陶瓷靶材,利用制备的Sc2W3O12陶瓷靶材以射频磁控溅射法沉积制备薄膜,在900-1100℃温度下热处理后制备负热膨胀Sc2W3O12薄膜。本发明的优点在于利用射频磁控溅射法制备Sc2W3O12薄膜的负热膨胀响应温度范围宽,负热膨胀性能稳定,薄膜质量好,且制备温度低、无需淬火、热处理工艺简单,制备过程具有良好的可重复性,易于实现工业化。
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