用于显微镜装置的自校准的方法

    公开(公告)号:CN103885168B

    公开(公告)日:2018-04-10

    申请号:CN201310724846.5

    申请日:2013-12-19

    Abstract: 本发明提供用于显微镜装置的自校准的方法。显微镜装置包括具有可变放大倍数的光学放大系统和检测器器件,在光学放大系统的不同放大倍数值下通过检测器器件可捕获物体图像。先执行校准模式,在光学放大系统的已知参考放大倍数值下用检测器器件捕获物体图像,在图像中确定至少两个特征参考点,在图像中将至少两个特征参考点间的距离确定为参考距离,确定参考距离与参考放大倍数值间的相互关系。后实施测量模式,在光学放大系统的第二放大倍数值下通过检测器器件捕获物体的当前图像,在当前图像中识别至少两个特征参考点,在当前图像中确定该特征参考点间的当前距离,基于参考距离与参考放大倍数值间的相互关系从当前距离确定第二放大倍数值。

    显微镜
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106796343B

    公开(公告)日:2020-05-29

    申请号:CN201580054410.7

    申请日:2015-07-15

    Abstract: 介绍一种显微镜(10),其具有用于进行聚焦过程的自动聚焦系统(11),该自动聚焦系统带有用于摄取第一图像(16a)的设置在第一输出光路(12a)中的第一图像传感器(14a)和用于摄取第二图像(16b)的设置在第二输出光路(12b)中的第二图像传感器(14b)。所述自动聚焦系统(11)被构造成在用于摄取由所述第一图像传感器(14a)摄取的所述第一图像(16a)和由所述第二图像传感器(14b)摄取的所述第二图像(16b)的图像摄取时间内,以焦点移动速度来调节清晰平面(20)相对于物体平面(22)的相对位置,其中,所述焦点移动速度等于步距与所述图像摄取时间的比,其中,所述步距大于所述显微镜(10)的景深。

    显微镜
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107250873A

    公开(公告)日:2017-10-13

    申请号:CN201580054411.1

    申请日:2015-07-15

    Abstract: 介绍了一种显微镜(10),其具有用于进行聚焦过程的自动聚焦系统(11),该自动聚焦系统带有用于摄取第一图像(16a)的设置在第一输出光路(12a)中的第一图像传感器(14a)和用于摄取第二图像(16b)的设置在第二输出光路(12b)中的第二图像传感器(14b)。在此,所述自动聚焦系统(11)被构造成基于由所述第一图像传感器(14a)摄取的所述第一图像(16a)的和由所述第二图像传感器(14b)摄取的所述第二图像(16b)的那些对照值来求得对照差,并基于所求得的对照差来调节清晰平面(20)相对于物体平面(22)的相对位置,其中,第一和第二图像(16a、16b)分别包含由分别被构造成平面传感器的第一和第二图像传感器(14a、14b)提供的图像信息。

    显微镜
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106796343A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201580054410.7

    申请日:2015-07-15

    Abstract: 介绍一种显微镜(10),其具有用于进行聚焦过程的自动聚焦系统(11),该自动聚焦系统带有用于摄取第一图像(16a)的设置在第一输出光路(12a)中的第一图像传感器(14a)和用于摄取第二图像(16b)的设置在第二输出光路(12b)中的第二图像传感器(14b)。所述自动聚焦系统(11)被构造成在用于摄取由所述第一图像传感器(14a)摄取的所述第一图像(16a)和由所述第二图像传感器(14b)摄取的所述第二图像(16b)的图像摄取时间内,以焦点移动速度来调节清晰平面(20)相对于物体平面(22)的相对位置,其中,所述焦点移动速度等于步距与所述图像摄取时间的比,其中,所述步距大于所述显微镜(10)的景深。

    显微镜
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107250873B

    公开(公告)日:2021-02-12

    申请号:CN201580054411.1

    申请日:2015-07-15

    Abstract: 介绍了一种显微镜(10),其具有用于进行聚焦过程的自动聚焦系统(11),该自动聚焦系统带有用于摄取第一图像(16a)的设置在第一输出光路(12a)中的第一图像传感器(14a)和用于摄取第二图像(16b)的设置在第二输出光路(12b)中的第二图像传感器(14b)。在此,所述自动聚焦系统(11)被构造成基于由所述第一图像传感器(14a)摄取的所述第一图像(16a)的和由所述第二图像传感器(14b)摄取的所述第二图像(16b)的那些对照值来求得对照差,并基于所求得的对照差来调节清晰平面(20)相对于物体平面(22)的相对位置,其中,第一和第二图像(16a、16b)分别包含由分别被构造成平面传感器的第一和第二图像传感器(14a、14b)提供的图像信息。

    用于显微镜装置的自校准的方法

    公开(公告)号:CN103885168A

    公开(公告)日:2014-06-25

    申请号:CN201310724846.5

    申请日:2013-12-19

    Abstract: 本发明提供用于显微镜装置的自校准的方法。显微镜装置包括具有可变放大倍数的光学放大系统和检测器器件,在光学放大系统的不同放大倍数值下通过检测器器件可捕获物体图像。先执行校准模式,在光学放大系统的已知参考放大倍数值下用检测器器件捕获物体图像,在图像中确定至少两个特征参考点,在图像中将至少两个特征参考点间的距离确定为参考距离,确定参考距离与参考放大倍数值间的相互关系。后实施测量模式,在光学放大系统的第二放大倍数值下通过检测器器件捕获物体的当前图像,在当前图像中识别至少两个特征参考点,在当前图像中确定该特征参考点间的当前距离,基于参考距离与参考放大倍数值间的相互关系从当前距离确定第二放大倍数值。

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