用于显微镜装置的自校准的方法

    公开(公告)号:CN103885168A

    公开(公告)日:2014-06-25

    申请号:CN201310724846.5

    申请日:2013-12-19

    Abstract: 本发明提供用于显微镜装置的自校准的方法。显微镜装置包括具有可变放大倍数的光学放大系统和检测器器件,在光学放大系统的不同放大倍数值下通过检测器器件可捕获物体图像。先执行校准模式,在光学放大系统的已知参考放大倍数值下用检测器器件捕获物体图像,在图像中确定至少两个特征参考点,在图像中将至少两个特征参考点间的距离确定为参考距离,确定参考距离与参考放大倍数值间的相互关系。后实施测量模式,在光学放大系统的第二放大倍数值下通过检测器器件捕获物体的当前图像,在当前图像中识别至少两个特征参考点,在当前图像中确定该特征参考点间的当前距离,基于参考距离与参考放大倍数值间的相互关系从当前距离确定第二放大倍数值。

    用于显微镜装置的自校准的方法

    公开(公告)号:CN103885168B

    公开(公告)日:2018-04-10

    申请号:CN201310724846.5

    申请日:2013-12-19

    Abstract: 本发明提供用于显微镜装置的自校准的方法。显微镜装置包括具有可变放大倍数的光学放大系统和检测器器件,在光学放大系统的不同放大倍数值下通过检测器器件可捕获物体图像。先执行校准模式,在光学放大系统的已知参考放大倍数值下用检测器器件捕获物体图像,在图像中确定至少两个特征参考点,在图像中将至少两个特征参考点间的距离确定为参考距离,确定参考距离与参考放大倍数值间的相互关系。后实施测量模式,在光学放大系统的第二放大倍数值下通过检测器器件捕获物体的当前图像,在当前图像中识别至少两个特征参考点,在当前图像中确定该特征参考点间的当前距离,基于参考距离与参考放大倍数值间的相互关系从当前距离确定第二放大倍数值。

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