使用气体分配板热的温度跃升

    公开(公告)号:CN106133883B

    公开(公告)日:2019-11-26

    申请号:CN201580013053.X

    申请日:2015-03-10

    Abstract: 提供用于蚀刻设置在基板上的电介质层的方法。所述方法包括:在蚀刻处理腔室中,将基板从静电夹头松开;以及在将基板从静电夹头松开的同时,循环地蚀刻电介质层。循环蚀刻的步骤包括:由供应至蚀刻处理腔室中的蚀刻气体混合物远程地生成等离子体,以便在第一温度下蚀刻设置在基板上的电介质层。蚀刻电介质层生成蚀刻副产物。循环蚀刻的步骤也包括:在蚀刻处理腔室中,竖直地向气体分配板移动基板;以及使升华气体从气体分配板流向基板以使蚀刻副产物升华。在第二温度下执行升华,其中第二温度高于第一温度。

    使用气体分配板热的温度跃升

    公开(公告)号:CN106133883A

    公开(公告)日:2016-11-16

    申请号:CN201580013053.X

    申请日:2015-03-10

    Abstract: 提供用于蚀刻设置在基板上的电介质层的方法。所述方法包括:在蚀刻处理腔室中,将基板从静电夹头松开;以及在将基板从静电夹头松开的同时,循环地蚀刻电介质层。循环蚀刻的步骤包括:由供应至蚀刻处理腔室中的蚀刻气体混合物远程地生成等离子体,以便在第一温度下蚀刻设置在基板上的电介质层。蚀刻电介质层生成蚀刻副产物。循环蚀刻的步骤也包括:在蚀刻处理腔室中,竖直地向气体分配板移动基板;以及使升华气体从气体分配板流向基板以使蚀刻副产物升华。在第二温度下执行升华,其中第二温度高于第一温度。

Patent Agency Ranking