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公开(公告)号：CN119224444A
公开(公告)日：2024-12-31
申请号：CN202310802289.8
申请日：2023-06-30
Applicant: 广东美的厨房电器制造有限公司 , 美的集团股份有限公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种测试系统、测试方法和电子设备。测试系统包括上位机、测试装置、服务器和终端设备，上位机与测试装置通信连接，服务器与测试装置和终端设备通信连接；测试装置用于获取待测设备的特征信息，基于待测设备的特征信息对待测设备进行电磁兼容性测试，获取测试后数据；上位机用于利用测试后数据形成并输出测试结果；服务器设有案例库，服务器用于获取待测设备的特征信息和测试后数据，基于待测设备的特征信息，利用测试后数据在案例库获取相应的整改信息，发送整改信息至终端设备；终端设备用于保存整改信息。上述测试系统可提升测试效率。
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公开(公告)号：CN117517811A
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202210903152.7
申请日：2022-07-29
Applicant: 广东美的厨房电器制造有限公司 , 美的集团股份有限公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种测试设备和测试方法。测试设备包括：测试腔体，用于放置待测设备；天线；辐射信号源，连接所述天线，用于通过所述天线向所述测试腔体内辐射电磁波；校准组件，所述校准组件包括阵列探头，所述阵列探头可移动地设置在所述测试腔体内，所述校准组件用于根据所述阵列探头在移动时所输出的电磁场场强信号，确定所述测试腔体内的均匀场强位置。上述测试设备，可通过阵列探头的移动来确定所述测试腔体内的均匀场强位置，提升了测试效率。
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公开(公告)号：CN115378378A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202110538391.2
申请日：2021-05-18
Applicant: 广东美的厨房电器制造有限公司 , 美的集团股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种半导体功率源以及微波加热装置。半导体功率源包括射频锁相环，射频锁相环用于产生预设频率的发射信号；移相器，移相器用于调节发射信号的相位；可调衰减器，可调衰减器用于调节发射信号的幅度；E类放大器，E类放大器用于对发射信号进行功率放大。本半导体功率源采用E类放大器进行功率放大，提升了半导体功率源的工作效率，降低半导体功率源的能耗。
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公开(公告)号：CN119232291A
公开(公告)日：2024-12-31
申请号：CN202310793677.4
申请日：2023-06-29
Applicant: 广东美的厨房电器制造有限公司 , 美的集团股份有限公司
Abstract: 本发明公开一种测试装置和测试方法。测试装置包括测试腔体，测试腔体内设有测试腔，测试腔用于放置待测设备；天线；射频模块，射频模块包括信号发生器和信号放大器，信号放大器连接信号发生器和天线，信号发生器用于输出射频信号，信号放大器用于对射频信号进行放大，天线用于将放大后的射频信号馈入至测试腔内。其中，信号发生器选自超宽带信号发生器和多频段信号发生器的至少一个；信号放大器选自超宽带信号放大器和多频段信号放大器的至少一个；天线选自超宽带天线、多频段天线和单频段天线中的至少一个，在天线为单频段天线的情况下，测试装置包括多个单频段天线，每个单频段天线对应一个测试频段。上述测试装置可满足更多频段的测试需求。
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公开(公告)号：CN119224447A
公开(公告)日：2024-12-31
申请号：CN202310802384.8
申请日：2023-06-30
Applicant: 广东美的厨房电器制造有限公司 , 美的集团股份有限公司
Abstract: 本发明公开一种检测系统和检测方法。检测系统包括：测试腔体，测试腔体内设有测试腔，测试腔用于放置待测设备；天线组件，天线组件安装在测试腔体；射频模块，射频模块电连接天线组件，射频模块用于输出射频信号，射频信号经天线组件馈入至测试腔；环境组件，环境组件用于调节测试腔的温度和湿度中的至少一个；控制组件，控制组件电连接射频模块和环境组件，控制组件用于根据测试指令控制射频模块发射射频信号和环境组件调节测试腔的温度和湿度中的至少一个。上述检测系统可以较为完整地模拟待测设备在各种工况环境下的使用场景。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117517920A
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202210903149.5
申请日：2022-07-29
Applicant: 广东美的厨房电器制造有限公司 , 美的集团股份有限公司
Abstract: 本发明公开一种检测设备，用于检测待测设备的抗微波干扰能力，其中，所述检测设备包括：测试腔体，用于放置待测设备；天线，安装在所述测试腔体；微波源，连接所述天线，所述微波源所输出的微波信号的功率、频率及相位是可调的，所述微波源输出的微波信号经所述天线馈入所述测试腔体内；前向采集组件，用于采集所述微波源输出的微波信号的一部分并形成相应的输出信号；处理器，连接所述微波源和所述前向采集组件，所述处理器用于根据所述输出信号控制所述微波源输出的微波信号的功率、频率及相位中的至少一个。本发明技术方案提供一种可以模拟复杂电磁环境的抗微波干扰能力的检测设备。
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公开(公告)号：CN119914905A
公开(公告)日：2025-05-02
申请号：CN202311426890.8
申请日：2023-10-31
Applicant: 广东美的厨房电器制造有限公司 , 美的集团股份有限公司
Abstract: 本发明提供了一种烹饪器具，其中，烹饪器具包括：底座，底座的顶部设有置物板，置物板用于放置食材；微波组件，设于底座，微波组件能够生成微波，微波组件具有多个翅片组，多个翅片组中的任一翅片组包括多个翅片，翅片用于将微波沿朝向置物板的方向辐射；热风组件，设于底座，热风组件能够生成热风，微波组件还具有热风组件安装槽，热风组件的至少一部分位于热风组件安装槽内，热风组件避让翅片，置物板的至少一部分能够通风，以将热风组件所生成的热风排出。
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公开(公告)号：CN119224445A
公开(公告)日：2024-12-31
申请号：CN202310802304.9
申请日：2023-06-30
Applicant: 广东美的厨房电器制造有限公司 , 美的集团股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种测试设备和测试方法，测试设备包括测试腔体、射频模块、天线和处理组件；测试腔体内设有测试腔，测试腔用于容置被测件；射频模块包括发射机、接收机、第一耦合器、第二耦合器和切换件，发射机用于输出射频信号，第一耦合器用于采集发射机输出的射频信号；天线用于将射频信号馈入测试腔内，及用于接收被测件辐射的电磁波；第二耦合器用于采集天线接收的被测件辐射的电磁波；处理组件连接发射机、接收机和切换件，处理组件用于控制切换件使接收机与第一耦合器连接或使接收机与第二耦合器连接。上述测试设备可以利用接收机来检测射频信号，对射频信号进行闭环控制。
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公开(公告)号：CN117991069A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202211338286.5
申请日：2022-10-28
Applicant: 广东美的厨房电器制造有限公司 , 美的集团股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种用于检测待测设备的抗微波干扰能力检测设备和检测方法。检测设备包括：测试腔体；天线，安装在所述测试腔体；固态源，连接所述天线，所述固态源用于输出微波信号，所述微波信号经所述天线馈入所述测试腔体内；转台结构，包括位于所述测试腔体内的转台，所述转台用于放置所述待测设备，所述转台结构用于驱动所述转台转动以带动所述待测设备转动。上述检测设备中，固态源所发射的微波信号可以经天线馈入测试腔体内，以将微波信号(电磁波)辐射至待测设备，进而模拟待测设备所处的电磁环境，而且转台结构可以带动待测设备转动，以减少对待测设备进行检测时所产生极化损失，提升检测的准确度。
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公开(公告)号：CN117517775A
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202210904014.0
申请日：2022-07-29
Applicant: 广东美的厨房电器制造有限公司 , 美的集团股份有限公司
IPC: G01R23/165 , G01R23/167
Abstract: 本发明公开了一种测试装置。测试装置包括：测试腔体，用于放置待测设备；天线，用于接收待测设备辐射的电磁波信号；和射频模块，射频模块包括：混频器，混频器连接天线，并用于利用本振信号将电磁波信号转换为第一中频信号；中频滤波器，连接混频器，中频滤波器用于消除第一中频信号中处于中频滤波器带宽外的杂散信号并输出第二中频信号；和数字信号处理单元，连接中频滤波器，数字信号处理单元用于接收第二中频信号，并通过至少两次对第二中频信号进行采样分析以消除第二中频信号中的杂散信号。上述测试装置中，通过中频滤波器滤和数字信号处理单元的处理，可以消除测试过程中的杂散信号，提高对待测设备辐射出的电磁波的频谱分析的准确性。
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