测试设备和测试方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117517811A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202210903152.7

    申请日:2022-07-29

    Abstract: 本发明公开了一种测试设备和测试方法。测试设备包括:测试腔体,用于放置待测设备;天线;辐射信号源,连接所述天线,用于通过所述天线向所述测试腔体内辐射电磁波;校准组件,所述校准组件包括阵列探头,所述阵列探头可移动地设置在所述测试腔体内,所述校准组件用于根据所述阵列探头在移动时所输出的电磁场场强信号,确定所述测试腔体内的均匀场强位置。上述测试设备,可通过阵列探头的移动来确定所述测试腔体内的均匀场强位置,提升了测试效率。

    测试装置和测试方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119232291A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202310793677.4

    申请日:2023-06-29

    Abstract: 本发明公开一种测试装置和测试方法。测试装置包括测试腔体,测试腔体内设有测试腔,测试腔用于放置待测设备;天线;射频模块,射频模块包括信号发生器和信号放大器,信号放大器连接信号发生器和天线,信号发生器用于输出射频信号,信号放大器用于对射频信号进行放大,天线用于将放大后的射频信号馈入至测试腔内。其中,信号发生器选自超宽带信号发生器和多频段信号发生器的至少一个;信号放大器选自超宽带信号放大器和多频段信号放大器的至少一个;天线选自超宽带天线、多频段天线和单频段天线中的至少一个,在天线为单频段天线的情况下,测试装置包括多个单频段天线,每个单频段天线对应一个测试频段。上述测试装置可满足更多频段的测试需求。

    测试设备和测试方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119224445A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202310802304.9

    申请日:2023-06-30

    Abstract: 本发明公开了一种测试设备和测试方法,测试设备包括测试腔体、射频模块、天线和处理组件;测试腔体内设有测试腔,测试腔用于容置被测件;射频模块包括发射机、接收机、第一耦合器、第二耦合器和切换件,发射机用于输出射频信号,第一耦合器用于采集发射机输出的射频信号;天线用于将射频信号馈入测试腔内,及用于接收被测件辐射的电磁波;第二耦合器用于采集天线接收的被测件辐射的电磁波;处理组件连接发射机、接收机和切换件,处理组件用于控制切换件使接收机与第一耦合器连接或使接收机与第二耦合器连接。上述测试设备可以利用接收机来检测射频信号,对射频信号进行闭环控制。

    测试装置
    4.
    发明公开
    测试装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN117517775A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202210904014.0

    申请日:2022-07-29

    Abstract: 本发明公开了一种测试装置。测试装置包括:测试腔体,用于放置待测设备;天线,用于接收待测设备辐射的电磁波信号;和射频模块,射频模块包括:混频器,混频器连接天线,并用于利用本振信号将电磁波信号转换为第一中频信号;中频滤波器,连接混频器,中频滤波器用于消除第一中频信号中处于中频滤波器带宽外的杂散信号并输出第二中频信号;和数字信号处理单元,连接中频滤波器,数字信号处理单元用于接收第二中频信号,并通过至少两次对第二中频信号进行采样分析以消除第二中频信号中的杂散信号。上述测试装置中,通过中频滤波器滤和数字信号处理单元的处理,可以消除测试过程中的杂散信号,提高对待测设备辐射出的电磁波的频谱分析的准确性。

    测试设备
    6.
    发明公开
    测试设备 审中-实审

    公开(公告)号:CN119224443A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202310793482.X

    申请日:2023-06-29

    Abstract: 本发明公开了一种测试设备。测试设备包括:测试腔体,所述测试腔体内设有测试腔,所述测试腔用于容置被测件;电气腔体,所述电气腔体内设有电气腔,所述电气腔与所述测试腔间隔,所述电气腔体为电磁屏蔽腔体;射频模块,所述射频模块用于输出射频信号,所述射频模块位于所述电气腔内;天线,所述天线电连接所述射频模块,所述天线用于将所述射频信号馈入至所述测试腔内及用于将所述被测件辐射的电磁波传导至所述射频模块。上述测试设备中,电气腔体为电磁屏蔽腔体,射频模块位于电气腔内,电气腔体可以防止射频模块工作时所产生的电磁干扰向电气腔体外辐射,减少测试过程中的电磁干扰,提升测试结果准确性。

    测试设备
    7.
    发明公开
    测试设备 审中-实审

    公开(公告)号:CN117517812A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202210903975.X

    申请日:2022-07-29

    Abstract: 本发明公开了一种测试设备。测试设备包括:测试腔体,用于放置待测设备;控制面板,连接所述测试腔体;天线,用于接收所述待测设备辐射的电磁波信号,和用于辐射电磁波信号至所述待测设备;射频模块,所述射频模块集成有第一辐射单元、第一传导单元、第二辐射单元和第二传导单元,其中,所述第一辐射单元和所述第二辐射单元的传导端口连接所述天线,所述第一传导单元和所述第二传导单元的传导端口设置于所述控制面板。上述测试设备中,通过将第一辐射单元、第一传导单元、第二辐射单元和第二传导单元集成于射频模块,一个测试设备支持EMC测试中的四项测试,降低测试设备成本,提高测试效率。

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