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公开(公告)号：CN118278346A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202410438533.1
申请日：2024-04-11
Applicant: 广东省大湾区集成电路与系统应用研究院
IPC: G06F30/367 , G06F30/373
Abstract: 本申请公开了一种电容‑电压曲线的校正方法、装置、设备及存储介质。首先可以通过第一阻抗测试桥的高端和低端分别获取目标晶体管的叠加电压和输出电流，并通过第二阻抗测试桥的高端和低端分别获取参照晶体管的叠加电压和输出电流。根据目标晶体管的叠加电压和输出电流绘制目标晶体管的目标电容‑电压曲线，根据参照晶体管的叠加电压和输出电流绘制参照晶体管的参照电容‑电压曲线。再基于目标电容‑电压曲线和参照电容‑电压曲线生成若干个沟道电容对，并基于若干个沟道电容对绘制校正电容‑电压曲线。本申请通过使用参照晶体管和目标晶体管，可以实现对目标晶体管电容‑电压曲线的高精度校正，确保准确性和可靠性。
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