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公开(公告)号：CN108351304A
公开(公告)日：2018-07-31
申请号：CN201780003869.3
申请日：2017-02-23
Applicant: 富士电机株式会社
CPC classification number: G01N21/64 , G01N21/3577 , G01N21/49 , G01N21/532 , G01N21/645 , G01N33/18 , G01N33/1893 , G01N2021/4726 , G01N2021/6491
Abstract: 利用简易的结构来兼具荧光检测功能和散射光检测功能，高精度地测定试样水的荧光强度。水质分析仪(1)具有：激发光照射光学系统(10)，其向作为测定对象的试样水照射激发用的光源光(L1)；荧光检测光学系统(21)，其对通过激发用的光源光的照射而激发出的试样水中的特定成分的荧光(L2)进行检测；散射光照射光学系统(30)，其向试样水照射散射光检测用的光源光(L3)；以及散射光检测光学系统(40)，其对因所照射的散射光检测用的光源光被试样水中的微粒散射而产生的散射光(L4)进行检测。能够检测激发光照射光学系统的光量和散射光照射光学系统的光量。
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公开(公告)号：CN108693084A
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201810117262.4
申请日：2018-02-06
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: G01N15/06
CPC classification number: G01N15/0272 , G01N33/0032 , G01N2015/0046 , G01N15/06
Abstract: 本发明提供一种能高精度地分析与产生源有关的信息的分析装置。提供一种产生源分析装置，包括：对多个测定对象成分各自的浓度获取测定地点处的时间序列的测定值的测定值获取部；对于至少一组测定对象成分计算时间序列的测定值的相关值的相关计算部；以及基于相关计算部算出的相关值来对与至少一个测定对象成分的产生源有关的信息进行分析的产生源分析部。
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公开(公告)号：CN106813949A
公开(公告)日：2017-06-09
申请号：CN201610929695.0
申请日：2016-10-31
Applicant: 富士电机株式会社
CPC classification number: H01J49/0422 , B23P19/04 , G01N1/2214 , G01N1/2273 , G01N1/44 , G01N2001/2223 , H01J49/0495 , G01N1/2202 , G01N1/4077 , G01N15/0606
Abstract: 在颗粒组成分析装置中，存在以下课题，即一旦在更换时将减压室开放到大气压力下，则要再次对整个减压室实施抽真空，花费时间使其恢复到减压状态，测定的空载时间会延长。一种捕集器更换机构，其具有：杆，其保持用来捕捉颗粒的捕集器；以及连接部，其具有与设置捕集器的减压空间连接的辅助空间的至少一部分，通过使杆移动，能够在保持减压空间的减压状态的状况下，使捕集器从减压空间退避至辅助空间侧，而在大气压中开放。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108351304B
公开(公告)日：2021-12-07
申请号：CN201780003869.3
申请日：2017-02-23
Applicant: 富士电机株式会社
Abstract: 利用简易的结构来兼具荧光检测功能和散射光检测功能，高精度地测定试样水的荧光强度。水质分析仪(1)具有：激发光照射光学系统(10)，其向作为测定对象的试样水照射激发用的光源光(L1)；荧光检测光学系统(21)，其对通过激发用的光源光的照射而激发出的试样水中的特定成分的荧光(L2)进行检测；散射光照射光学系统(30)，其向试样水照射散射光检测用的光源光(L3)；以及散射光检测光学系统(40)，其对因所照射的散射光检测用的光源光被试样水中的微粒散射而产生的散射光(L4)进行检测。能够检测激发光照射光学系统的光量和散射光照射光学系统的光量。
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公开(公告)号：CN106525673B
公开(公告)日：2021-04-06
申请号：CN201610592004.2
申请日：2016-07-26
Applicant: 富士电机株式会社
Abstract: 虽然希望对作为测定对象的气体试料中包含的微粒子的组成和浓度进行测定，但存在由于分析装置的例如捕捉微粒子的捕捉体上吸附的气体试料以外的物质的影响而无法准确测定的问题。本发明的微粒子组成分析装置对气体试料中包含的微粒子的组成进行分析，包括：气体分析器；以及将试料气体和比较气体依次导入气体分析器的控制部，该试料气体是由于对气体试料照射激光而生成的微粒子而产生的。
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公开(公告)号：CN106525673A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201610592004.2
申请日：2016-07-26
Applicant: 富士电机株式会社
CPC classification number: H01J49/0463 , G01N15/00 , G01N33/0004 , G01N33/0006 , G01N33/0016 , G01N33/0026 , G01N33/007 , G01N33/0073 , G01N2015/0046 , G01N2033/0019 , G01N2033/0072 , H01J49/0422 , G01N15/06 , G01N1/44 , G01N5/00
Abstract: 虽然希望对作为测定对象的气体试料中包含的微粒子的组成和浓度进行测定，但存在由于分析装置的例如捕捉微粒子的捕捉体上吸附的气体试料以外的物质的影响而无法准确测定的问题。本发明的微粒子组成分析装置对气体试料中包含的微粒子的组成进行分析，包括：气体分析器；以及将试料气体和比较气体依次导入气体分析器的控制部，该试料气体是由于对气体试料照射激光而生成的微粒子而产生的。
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公开(公告)号：CN107340209A
公开(公告)日：2017-11-10
申请号：CN201710281182.8
申请日：2017-04-26
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: G01N15/06
CPC classification number: G01N33/0036 , G01N1/2202 , G01N33/0042 , G01N2001/2223 , G01N2015/0046 , G01N15/06 , G01N15/0656 , G01N2015/0693
Abstract: 分析以气体形态排出的对象成分的产生源。提供一种产生源分析装置，其包含获取含对象成分的气体的浓度测定值和与气体关联而产生的粒子成分的浓度测定值的获取部以及根据气体的浓度测定值与粒子成分的浓度测定值来分析从测定地点到对象成分产生源的距离的分析部。获取部可获取生成粒子成分的原料即前驱气体的浓度测定值与由前驱气体产生的二次生成粒子成分的浓度测定值。
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公开(公告)号：CN107271225A
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201710176345.6
申请日：2017-03-23
Applicant: 富士电机株式会社
CPC classification number: G01N15/0205 , G01K7/22 , G01K13/00 , G01N1/2214 , G01N1/44 , G01N15/0625 , G01N15/14 , G01N15/1425 , G01N2015/0046 , G01N2015/0681 , G01N1/2247 , G01N15/0211 , G01N2015/1486 , G05D23/24
Abstract: 本发明提供粒子成分分析装置、粒子复合分析装置及粒子成分分析装置的使用方法。通过对捕获体照射能量线，使捕获体的温度上升。由此，粒子从捕获体脱离。在对从捕获体脱离的粒子进行分析时，在不控制捕获体的温度的情况下，捕获体的温度发生变化而难以将测定条件保持为恒定。粒子成分分析装置具有：捕获体，其捕获成为测定对象的气溶胶中的粒子；能量线照射部，其向被捕获体捕获的粒子照射能量线；分析器，其基于通过能量线的照射而从捕获体脱离的粒子的脱离成分对粒子的成分和每种成分的量中的至少一项进行分析，捕获体具有温度测定部，粒子成分分析装置还具备控制部，控制部基于通过温度测定部测得的捕获体的温度对能量线照射部的输出进行控制。
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