气体分析仪
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114136899B

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202110841890.9

    申请日:2021-07-26

    Abstract: 希望气体分析仪能高精度地测定气体浓度。测定样品气体中包含的测定对象成分的浓度的气体分析仪包括:射出包含测定对象成分的吸收波长的光的光源部;密封样品气体的气室;获取通过气室后的光的发射光谱的光接收元件;处理光接收元件的光接收信号并对测定对象成分的浓度进行测定的信号处理电路;以及配置在从光源部到光接收元件的光路中并调整光的发射光谱的每一个波长的特性的调整部。

    激光式气体分析仪
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119023616A

    公开(公告)日:2024-11-26

    申请号:CN202410384662.7

    申请日:2024-04-01

    Abstract: 提供一种激光式气体分析仪。能够使受光部中的激光的光束直径的调整以及向受光部入射的激光的入射角的调整变得容易。激光式气体分析仪(100)对存在于测定对象空间的测定对象气体的浓度进行测定或测定该测定对象空间有无测定对象气体,具备发光部(110)和受光部(120)。发光部(110)具备波长可变的激光元件(112)、调制光生成部(111)以及驱动电流控制部(116),受光部(120)具备受光元件(122)和受光信号处理部(121)。发光部(110)具备移动机构(117),该移动机构(117)能够使激光元件(112)在光轴方向上移动、以及能够使激光元件(112)在使光轴方向变化的方向上移动。

    气体分析仪
    5.
    发明公开
    气体分析仪 审中-实审

    公开(公告)号:CN117255938A

    公开(公告)日:2023-12-19

    申请号:CN202280030569.5

    申请日:2022-04-05

    Abstract: 本发明提供一种气体分析仪,其对样本气体中含有的测定对象成分的浓度进行测定,包括:光源部,该光源部射出含有所述测定对象成分的吸收波长的光;准直部,该准直部将所述光转换为准直光;单元,该单元在密封了所述样本气体的空间中容纳一个以上用于反射所述光的反射镜;受光元件,该受光元件用于获取通过了所述单元的所述光的辐射光谱;以及处理部,该处理部处理所述受光元件的受光信号,并测定所述测定对象成分的浓度,所述一个以上的所述反射镜包含最先反射所述准直光的第1反射镜,所述第1反射镜包含反射所述准直光的凹面部,所述凹面部的宽度小于所述准直光的宽度。

    产生源分析装置以及产生源分析系统

    公开(公告)号:CN108693084B

    公开(公告)日:2022-07-19

    申请号:CN201810117262.4

    申请日:2018-02-06

    Abstract: 本发明提供一种能高精度地分析与产生源有关的信息的分析装置。提供一种产生源分析装置,包括:对多个测定对象成分各自的浓度获取测定地点处的时间序列的测定值的测定值获取部;对于至少一组测定对象成分计算时间序列的测定值的相关值的相关计算部;以及基于相关计算部算出的相关值来对与至少一个测定对象成分的产生源有关的信息进行分析的产生源分析部。

    气体分析仪
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114136899A

    公开(公告)日:2022-03-04

    申请号:CN202110841890.9

    申请日:2021-07-26

    Abstract: 希望气体分析仪能高精度地测定气体浓度。测定样品气体中包含的测定对象成分的浓度的气体分析仪包括:射出包含测定对象成分的吸收波长的光的光源部;密封样品气体的气室;获取通过气室后的光的发射光谱的光接收元件;处理光接收元件的光接收信号并对测定对象成分的浓度进行测定的信号处理电路;以及配置在从光源部到光接收元件的光路中并调整光的发射光谱的每一个波长的特性的调整部。

    微粒子组成分析装置
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106525673B

    公开(公告)日:2021-04-06

    申请号:CN201610592004.2

    申请日:2016-07-26

    Abstract: 虽然希望对作为测定对象的气体试料中包含的微粒子的组成和浓度进行测定,但存在由于分析装置的例如捕捉微粒子的捕捉体上吸附的气体试料以外的物质的影响而无法准确测定的问题。本发明的微粒子组成分析装置对气体试料中包含的微粒子的组成进行分析,包括:气体分析器;以及将试料气体和比较气体依次导入气体分析器的控制部,该试料气体是由于对气体试料照射激光而生成的微粒子而产生的。

    粒子束形成装置
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104736995B

    公开(公告)日:2017-07-25

    申请号:CN201380051775.5

    申请日:2013-10-17

    Abstract: 本发明提供一种能够形成粒子束,并对形成的粒子束的空间分布进行评价且控制的粒子束形成装置。一种粒子束形成装置,其从粒子分散于气体的粒子源形成线状或者圆锥状的粒子束,其具有减压容器(12)、粒子束生成装置(3)及粒子束评价装置,其中,所述减压容器(12)的内部被减压;所述粒子束生成装置(3)的一端配置在减压容器(12)外,另一端配置在减压容器(12)内,获取减压容器(12)外的粒子源(2),将粒子束导入减压容器(12)内;所述粒子束评价装置对减压容器(12)内的粒子束的空间分布进行评价。优选地,该粒子束评价装置具备光照射装置、散射光检测装置(14)及信号处理装置(15),其中,所述光照射装置对粒子束照射光;所述散射光检测装置(14)检测向粒子束照射的光与粒子接触而产生的散射光;所述信号处理装置(15)对散射光检测装置(14)输出的与该散射光的强度及/或频率相对应的信号进行记录并处理。

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