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公开(公告)号：CN109729751B
公开(公告)日：2021-02-26
申请号：CN201880003019.8
申请日：2018-02-08
申请人： 富士电机株式会社
摘要： 本发明提供一种评价方法、综合评价方法、评价装置及综合评价装置，对半导体器件的辐射噪声进行简便评价，并推定搭载了半导体器件的装置的辐射噪声。该评价方法具备：使通过负载电缆与负载并联连接的半导体器件进行开关动作的阶段；在开关动作过程中测定流过负载电缆的共模电流的阶段；以及基于共模电流输出辐射噪声的评价指标的阶段。
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公开(公告)号：CN109729751A
公开(公告)日：2019-05-07
申请号：CN201880003019.8
申请日：2018-02-08
申请人： 富士电机株式会社
CPC分类号： G01R29/0814 , G01R29/00 , G01R29/08 , G01R29/0871 , G01R29/26 , H02M1/00 , H02M7/217 , H02M7/537
摘要： 本发明提供一种评价方法、综合评价方法、评价装置及综合评价装置，对半导体器件的辐射噪声进行简便评价，并推定搭载了半导体器件的装置的辐射噪声。该评价方法具备：使通过负载电缆与负载并联连接的半导体器件进行开关动作的阶段；在开关动作过程中测定流过负载电缆的共模电流的阶段；以及基于共模电流输出辐射噪声的评价指标的阶段。
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公开(公告)号：CN109564259B
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN201880003031.9
申请日：2018-02-08
申请人： 富士电机株式会社
摘要： 本发明提供一种评价方法、推定方法、评价装置及综合评价装置，对半导体器件的辐射噪声进行简便评价，并推定搭载了半导体器件的装置的辐射噪声。该评价方法和评价装置具备：使半导体器件进行开关动作的阶段；测定正在进行开关动作的半导体器件的主端子之间产生的电压变化的阶段；以及基于电压变化来输出半导体器件的辐射噪声的评价指标的阶段。输出评价指标的阶段可以根据每个频率分量来计算半导体器件的电压变化作为评价指标。
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公开(公告)号：CN109564259A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201880003031.9
申请日：2018-02-08
申请人： 富士电机株式会社
摘要： 本发明提供一种评价方法、推定方法、评价装置及综合评价装置，对半导体器件的辐射噪声进行简便评价，并推定搭载了半导体器件的装置的辐射噪声。该评价方法和评价装置具备：使半导体器件进行开关动作的阶段；测定正在进行开关动作的半导体器件的主端子之间产生的电压变化的阶段；以及基于电压变化来输出半导体器件的辐射噪声的评价指标的阶段。输出评价指标的阶段可以根据每个频率分量来计算半导体器件的电压变化作为评价指标。
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