-
公开(公告)号:CN109119418B
公开(公告)日:2023-10-20
申请号:CN201810410764.6
申请日:2018-05-02
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: H01L27/04 , G01R31/26 , H01L21/822
Abstract: 提供一种不需要设置附加电路、并且不另外设置栅极筛查端子就能够进行栅极筛查试验的半导体集成装置及其栅极筛查试验方法。具备:栅极驱动部(12),其对电压控制型半导体元件(Q2)的栅极进行驱动;以及调节器(13),其向该栅极驱动部提供栅极驱动电压,具备外部连接端子(tc),在栅极筛查试验时,能够对该外部连接端子(tc)施加针对所述电压控制型半导体元件的栅极筛查用电压。
-
公开(公告)号:CN109119418A
公开(公告)日:2019-01-01
申请号:CN201810410764.6
申请日:2018-05-02
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: H01L27/04 , G01R31/26 , H01L21/822
CPC classification number: G01R31/2621 , G01R31/2884 , G05F1/59 , H03K17/6871 , H01L21/822 , G01R31/2601 , H01L27/04
Abstract: 提供一种不需要设置附加电路、并且不另外设置栅极筛查端子就能够进行栅极筛查试验的半导体集成装置及其栅极筛查试验方法。具备:栅极驱动部(12),其对电压控制型半导体元件(Q2)的栅极进行驱动;以及调节器(13),其向该栅极驱动部提供栅极驱动电压,具备外部连接端子(tc),在栅极筛查试验时,能够对该外部连接端子(tc)施加针对所述电压控制型半导体元件的栅极筛查用电压。
-