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公开(公告)号:CN105765698A
公开(公告)日:2016-07-13
申请号:CN201480061687.8
申请日:2014-11-12
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: H01L21/28 , H01L21/265 , H01L21/329 , H01L29/47 , H01L29/872
Abstract: 在n型SiC基板(1)的背面形成欧姆电极(8)时,通过离子注入在n型外延基板的背面的表面层形成n+型半导体区(7)。在该离子注入中,以30keV以上且150keV以下的范围的加速能量注入n型杂质,以使n+型半导体区(7)的杂质浓度成为1×1019/cm3以上且8×1020/cm3以下,优选成为4×1020/cm3以下,且使n+型半导体区(7)的厚度成为200nm以下的程度。然后,在n+型半导体区(7)的表面依次形成镍层和钛层,并通过热处理对镍层进行硅化而形成由硅化镍构成的欧姆电极(8)。据此,能够抑制背面电极剥离,并能够形成具有良好的特性的背面电极。
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公开(公告)号:CN102804394A
公开(公告)日:2012-11-28
申请号:CN201080065423.1
申请日:2010-09-08
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: H01L31/04
CPC classification number: H01L31/1824 , H01L21/02422 , H01L21/0245 , H01L21/02532 , H01L21/0262 , H01L31/03685 , H01L31/03921 , H01L31/075 , Y02E10/545 , Y02E10/548 , Y02P70/521
Abstract: 公开了具有良好电池特性的太阳能电池、以及该太阳能电池的制造方法。具体地,公开了包括至少一层光电转换元件的太阳能电池的制造方法,在这些层中由微晶硅膜构成的i型硅层设置在n型硅层和p型硅层之间,并且基板侧n型硅层或p型硅层由非晶硅膜构成。在该方法中,通过将含硅烷气体和氢气的混合气体引入腔室的等离子体CVD法来形成光电转换元件,并且在基板侧n型硅层或p型硅层与i型硅层之间形成由微晶硅膜构成的籽晶层。籽晶层在与基板侧n型硅层或p型硅层接触的部分中具有比i型硅层低的结晶率,并且继续至结晶率朝着i型硅层阶段性地或逐渐地增大的i型硅层。
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