测量装置、存储介质以及间隙、面差的测量方法

    公开(公告)号:CN112556562B

    公开(公告)日:2022-10-21

    申请号:CN202011430071.7

    申请日:2020-12-09

    Abstract: 本发明公开一种测量装置、间隙测量方法、面差测量方法以及存储介质,其中测量装置包括绝缘本体和两个触碰感应边,绝缘本体为刚性结构,两个触碰感应边分设于绝缘本体的相对两侧,且两个触碰感应边呈夹角设置。本发明中,将测量装置插入待测量间隙或面差内,根据触碰感应边反馈的测量信息,进行进一步计算直接获取待测量间隙尺寸或待测量面差尺寸,而不用工作人员根据经验去进行判断;并且,进行间隙或面差测量时,工作人员只需进行插入测量装置和读取数值,简化工作人员的工作难度,提高测量效率;避免工作人员操作不规范对测量结果造成影响,容错率高,提高测量结果的准确度;并且进行测量时不用在指定环境下进行测量,拓展测量装置的适用范围。

    测量装置、间隙测量方法、面差测量方法以及存储介质

    公开(公告)号:CN112556562A

    公开(公告)日:2021-03-26

    申请号:CN202011430071.7

    申请日:2020-12-09

    Abstract: 本发明公开一种测量装置、间隙测量方法、面差测量方法以及存储介质,其中测量装置包括绝缘本体和两个触碰感应边,绝缘本体为刚性结构,两个触碰感应边分设于绝缘本体的相对两侧,且两个触碰感应边呈夹角设置。本发明中,将测量装置插入待测量间隙或面差内,根据触碰感应边反馈的测量信息,进行进一步计算直接获取待测量间隙尺寸或待测量面差尺寸,而不用工作人员根据经验去进行判断;并且,进行间隙或面差测量时,工作人员只需进行插入测量装置和读取数值,简化工作人员的工作难度,提高测量效率;避免工作人员操作不规范对测量结果造成影响,容错率高,提高测量结果的准确度;并且进行测量时不用在指定环境下进行测量,拓展测量装置的适用范围。

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