一种基于加固技术的抗四节点翻转latch锁存器电路、模块

    公开(公告)号:CN116614110A

    公开(公告)日:2023-08-18

    申请号:CN202310487411.7

    申请日:2023-04-28

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明涉及集成电路设计技术领域,更具体的,涉及一种基于加固技术的抗四节点翻转latch锁存器电路,以及基于该抗四节点翻转latch锁存器电路封装的模块。本发明的存储节点X0、X3、X4、X7、X8、X11均由PMOS晶体管包围,形成极性加固,有效避免发生翻转。本发明使用了源隔离技术,使存储节点X1、X2、X5、X6、X9、X10也仅产生“1‑0”和“0‑0”的电压脉冲,可以有效减少电路敏感节点数量,提高了电路稳定性。本发明构建了多级输入的C单元部,可在多节点受到轰击时配合作用保证Q的正确输出。本发明的电路具备完全的抗SNU、DNU、TNU、QNU能力,并有较低的延迟、较低的功耗以及较小的面积。

    基于极性加固的抗辐照锁存器的电路结构、芯片和模块

    公开(公告)号:CN116386694A

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN202310386475.8

    申请日:2023-04-12

    Applicant: 安徽大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于极性加固的抗辐照锁存器的电路结构、芯片和模块。该电路结构包括。多输入C单元、传输门、两个SRAM单元和两个传输单元。第二SRAM单元与第一SRAM单元结构对称并交叉耦合,形成存储节点S0~S7。当WL为低电平时,内部数据通过多输入C单元连接到输出端口Q。当WL为高电平时,通过传输门的直接传输路径传输数据。存储节点S0、S3、S4、S7由D输入信号通过第一传输单元输入,存储节点S1、S2、S5、S6由DN输入信号通过第二传输三元输入。本发明采用传输门快速输入,降低了锁存器的传输延时与功耗,通过多输入C单元地将内部节点产生的电压波动屏蔽,不会造成Q信号的翻转,具有较高的抗SEU、DNU、TNU的能力。

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