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公开(公告)号:CN115244712A
公开(公告)日:2022-10-25
申请号:CN202180018650.7
申请日:2021-02-17
Applicant: 学校法人早稻田大学
IPC: H01L29/78 , H01L21/336
Abstract: 本发明提供一种金刚石场效应晶体管及其制造方法,为了降低界面能级密度而使用氧化硅膜作为具有含C‑Si键的硅终止层的栅极绝缘膜。FET(100A)包括在非掺杂的金刚石层(2A)的表面上形成的氧化硅膜(3A)、以氧化硅膜(3A)为掩模在非掺杂的金刚石层(2A)的表面上形成的非掺杂的金刚石层(4A)、在非掺杂的金刚石层(2A)和氧化硅膜(3A)的界面以及非掺杂的金刚石层(4A)和氧化硅膜(3A)的界面上形成的硅终止层(5A)、以及在氧化硅膜(3A)上形成的栅极(12A)。FET(100A)将氧化硅膜(3A)和在氧化硅膜(3A)上形成的绝缘膜(10A)作为栅极绝缘膜(11A),将非掺杂的金刚石层(4A)作为源极区域和漏极区域进行动作。