一种太阳电池
    3.
    实用新型

    公开(公告)号:CN211828782U

    公开(公告)日:2020-10-30

    申请号:CN202020763214.5

    申请日:2020-05-09

    摘要: 本实用新型提供了一种太阳电池,属于光伏技术领域。它包括电池本体,所述的电池本体前表面至少设有一条无发射极区域。所述的电池本体(1)包括p型硅基底(3),p型硅基底前表面从里到外依次设有PERC磷扩散发射极(4)和PERC电池减反射膜(5),p型硅基底后表面从里到外依次设有第一PERC电池背面钝化层(6)和第二PERC电池背面钝化层(7),所述的无发射极区域(2)贯穿PERC磷扩散发射极(4)和PERC电池减反射膜(5)。本实用新型可以消除激光切割对p-n结的损伤,显著地减弱由于激光切割导致的太阳电池填充因子下降。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种检测太阳能电池片钝化不均匀的方法

    公开(公告)号:CN110648939A

    公开(公告)日:2020-01-03

    申请号:CN201911074421.8

    申请日:2019-11-06

    IPC分类号: H01L21/66

    摘要: 本发明公开了一种检测太阳能电池片钝化不均匀的方法,其特征在于:包括如下步骤:S1.挑选成品电池片或经过金属化工序后的过程电池片,在点电压测试系统进行测试;S2.使用光照系统对各太阳能电池片进行照射,光照强度为0.01至1W/cm2,光照时间为0.01-10秒,连续地照射一次,或者,间隔地进行多次照射,得到各电池片在光照下的明暗信息;S3.对每一片电池片上的N个不同位置进行开路电压的测量,得到每一个电池片的N个开路电压,N为大于等于2的自然数;与步骤S2得到该片电池片的明暗信息,结合起来判断电池片为钝化不均匀,根据判定结果,对电池片进行分选。本发明可使钝化均匀的电池片进入下一步组件封装流程,提高了组件的良率。

    一种基于光致发光系统检测太阳能电池明暗片的方法

    公开(公告)号:CN110648936A

    公开(公告)日:2020-01-03

    申请号:CN201910939073.X

    申请日:2019-09-30

    IPC分类号: H01L21/66

    摘要: 本发明提供了一种基于光致发光系统检测太阳能电池明暗片的方法,包括以下步骤:S1.使用光致测试系统对成品电池片的样品进行测试;S2.收集测试过程中所述样品的光致发光结果图及光致发光激发亮度值;S3.根据光致发光激发亮度值与样品电压值的对应关系式计算样品上各点的电压值;S4.根据所述光致发光结果图选出亮度差最大的两个点,并比较两个点之间的电压差异是否大于预设值,若是,则判断所述样品为明暗片。本发明通过在电池端筛选出不合格电池片,极大的降低了组件端进行返工处理的成本和消耗。

    太阳电池电压分布测量方法及其测量装置

    公开(公告)号:CN110648937A

    公开(公告)日:2020-01-03

    申请号:CN201911011946.7

    申请日:2019-10-23

    IPC分类号: H01L21/66 H01L21/677

    摘要: 本发明公开了一种太阳电池电压分布测量方法,其特征在于:包含如下步骤:S1:根据一片太阳电池的切片数量N,采用M组电压探针,每组电压探针均包括上探针和下探针且测量时每片切片电池上至少有一组电压探针,电压探针的上探针和下探针分别接触切片电池的正面电极和背面电极;独立采集各组电压探针收集到各切片电池的开路电压,得到M个开路电压值;其中N≤M≤100;S2:比较M个开路电压值中的任意两个,如满足设定的条件时判断该些切片电池的电压分布不均匀。本发明还提供一种太阳电池电压分布测量装置。本发明通过对组成组件的单元电池即:切片电池的内部电压进行测量,在电池端即筛选出电压分布均匀的电池片,提高了组件端产品的良率。

    一种检测太阳能电池片钝化不均匀的方法

    公开(公告)号:CN110648939B

    公开(公告)日:2022-03-22

    申请号:CN201911074421.8

    申请日:2019-11-06

    IPC分类号: H01L21/66

    摘要: 本发明公开了一种检测太阳能电池片钝化不均匀的方法,其特征在于:包括如下步骤:S1.挑选成品电池片或经过金属化工序后的过程电池片,在点电压测试系统进行测试;S2.使用光照系统对各太阳能电池片进行照射,光照强度为0.01至1W/cm2,光照时间为0.01‑10秒,连续地照射一次,或者,间隔地进行多次照射,得到各电池片在光照下的明暗信息;S3.对每一片电池片上的N个不同位置进行开路电压的测量,得到每一个电池片的N个开路电压,N为大于等于2的自然数;与步骤S2得到该片电池片的明暗信息,结合起来判断电池片为钝化不均匀,根据判定结果,对电池片进行分选。本发明可使钝化均匀的电池片进入下一步组件封装流程,提高了组件的良率。

    一种激光硼掺杂选择性发射极TOPCon结构电池及其制备方法

    公开(公告)号:CN110299422B

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN201910578339.2

    申请日:2019-06-28

    IPC分类号: H01L31/0224 H01L31/18

    摘要: 本发明公开了一种激光硼掺杂选择性发射极TOPCon结构电池及其制备方法,方法包括以下步骤:对N型硅片进行清洗制绒;在硼扩散中,推进形成高硼表面浓度的P++层,不进行氧化过程;采用激光对栅线区域进行掺杂推进;经过清洗,放回扩散炉进行氧化形成选择性发射极;去除背面的BSG和P+层,在背面制备隧穿氧化层和掺杂薄膜硅层;去掉正面绕镀产生的多晶硅和步骤Ⅱ得到的BSG,双面沉积钝化层和SiNx减反膜;丝网印刷双面电极。本发明的制备方法不仅可以提高电池的开路电压,而且可以提高电池的填充因子,最终提高TOPCon太阳电池的转换效率。

    一种用于多晶硅薄膜的激光掺杂方法

    公开(公告)号:CN112103368A

    公开(公告)日:2020-12-18

    申请号:CN201910473109.X

    申请日:2019-05-31

    摘要: 本发明公开了一种用于多晶硅薄膜的激光掺杂方法,包括以下步骤:在硅片衬底的表面生长一层氧化硅层;在氧化硅层上沉积多晶硅薄膜,所述多晶硅薄膜为原位掺杂的多晶硅薄膜或本征多晶硅薄膜,若为本征多晶硅薄膜时,在本征多晶硅薄膜上引入掺杂源;采用激光辐照多晶硅薄膜。对于原位掺杂的多晶硅薄膜,采用激光辐照多晶硅薄膜,以激活掺杂原子。若对于需外部引入掺杂源的多晶硅薄膜,采用激光辐照,将掺杂剂推入多晶硅薄膜以实现掺杂。本发明可以实现多晶硅薄膜掺杂的低温化,本发明可以实现多晶硅薄膜的局域掺杂。