公开(公告)号：CN113008851B

公开(公告)日：2024-04-12

申请号：CN202110194389.8

申请日：2021-02-20

Applicant: 大连海事大学

Inventor： 王俊生 ,  刘俊男

IPC: G01N21/64

Abstract: 本发明公开了一种基于斜入式激发提高共聚焦结构微弱信号检测信噪比的装置，利用共聚焦光学结构聚焦激发光，滤除聚焦点外的杂散光，高效收集聚焦点内的荧光，利用微流控芯片底部的反射原理，采用斜入式聚焦照射，使激发光反射到物镜聚焦区以外的区域，在共聚焦光学结构的基础上进一步提升其信噪比，在此基础上设计了可以保证检测物单个通过检测区的微流控芯片通道，信号处理时加入了基于谱减法的去噪放大算法，加上可调节光源，以及螺旋微调套件的合理设计和应用，使装置变得小型化、易于操作、成本低廉、信号信噪比强。解决现有荧光检测设备仪器需要繁杂滤光去噪的不足，以及体积大、成本高昂、检测效率低、操作复杂的问题。

公开(公告)号：CN113008851A

公开(公告)日：2021-06-22

申请号：CN202110194389.8

申请日：2021-02-20

Applicant: 大连海事大学

Inventor： 王俊生 ,  刘俊男

IPC: G01N21/64

Abstract: 本发明公开了一种基于斜入式激发提高共聚焦结构微弱信号检测信噪比的装置，利用共聚焦光学结构聚焦激发光，滤除聚焦点外的杂散光，高效收集聚焦点内的荧光，利用微流控芯片底部的反射原理，采用斜入式聚焦照射，使激发光反射到物镜聚焦区以外的区域，在共聚焦光学结构的基础上进一步提升其信噪比，在此基础上设计了可以保证检测物单个通过检测区的微流控芯片通道，信号处理时加入了基于谱减法的去噪放大算法，加上可调节光源，以及螺旋微调套件的合理设计和应用，使装置变得小型化、易于操作、成本低廉、信号信噪比强。解决现有荧光检测设备仪器需要繁杂滤光去噪的不足，以及体积大、成本高昂、检测效率低、操作复杂的问题。