激光器电源的测试系统及方法

    公开(公告)号:CN109031158B

    公开(公告)日:2021-04-27

    申请号:CN201810931219.1

    申请日:2018-08-15

    Abstract: 本发明涉及一种激光器电源的测试系统及方法。通过由激光器电源、输入模块、输出模块以及控制终端构成的测试系统,为激光器电源测试提供了稳定的输入电源和输出负载,且能够实时监控系统的工作状态,自动化采样、存储、分析并显示激光器电源测试结果,解决激光器电源测试存在的数据采样点多,步骤繁复,分析成本高的问题,同时消除输出端设备测试值与实际值之间压降值的误差,提高激光器电源测试精度。

    激光器电光转换效率的测试系统及方法

    公开(公告)号:CN109297681A

    公开(公告)日:2019-02-01

    申请号:CN201810929790.X

    申请日:2018-08-15

    Abstract: 本发明涉及一种激光器电光转换效率的测试系统及方法。通过由激光器、能量波形采集装置、功率波形采集装置以及控制终端构成的测试系统,能够实时监控仪器设备工作状态,自动化测试电光转换效率并分析存储数据,解决频繁的修改测试参数及重复步骤较多的问题,减少手动操作步骤;并且能够实时显示激光器灯电注入能量波形、出光功率波形、预设出光频率及电光转换效率波形,降低分析成本,精简测试。

    激光器电源的测试系统及方法

    公开(公告)号:CN109031158A

    公开(公告)日:2018-12-18

    申请号:CN201810931219.1

    申请日:2018-08-15

    CPC classification number: G01R31/40

    Abstract: 本发明涉及一种激光器电源的测试系统及方法。通过由激光器电源、输入模块、输出模块以及控制终端构成的测试系统,为激光器电源测试提供了稳定的输入电源和输出负载,且能够实时监控系统的工作状态,自动化采样、存储、分析并显示激光器电源测试结果,解决激光器电源测试存在的数据采样点多,步骤繁复,分析成本高的问题,同时消除输出端设备测试值与实际值之间压降值的误差,提高激光器电源测试精度。

    半导体激光器寿命预估装置、方法、计算机设备及介质

    公开(公告)号:CN110763435A

    公开(公告)日:2020-02-07

    申请号:CN201910944258.X

    申请日:2019-09-30

    Abstract: 本发明涉及半导体激光器领域,尤其涉及一种半导体激光器寿命预估方法,包括:检测获取不同加速环境下半导体激光器的样本使用寿命;将样本使用寿命进行线性拟合以获得加速模型;基于加速模型以及指定环境的参数获得在指定环境参数下半导体激光器的预期使用寿命。上述半导体激光器的寿命预估方法中,半导体激光器在加速环境下的样本使用寿命大大缩短,因此能够在较短的时间内测试出半导体激光器在加速环境下的样本使用寿命,再利用获得的加速模型,将正常工作环境的参数代入加速模型,就能够获得半导体激光器在正常工作环境下的预期使用寿命,从而实现在较短时间内准确预估出半导体激光器在正常工作环境下的预期使用寿命。

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