公开(公告)号：CN116609982A

公开(公告)日：2023-08-18

申请号：CN202310593359.3

申请日：2023-05-24

Applicant: 复旦大学

Inventor： 蒋寻涯 ,  黄俊铭 ,  史雪漾 ,  李云林

IPC: G02F1/35 ,  G02F1/365 ,  G02B27/00 ,  G02B6/122

Abstract: 本发明属于全光信息技术领域，具体为基于光子晶体缺陷态的飞秒/阿秒级全光开关及其设计方法。本发明设计方法包括：设定带有非线性材料的含缺陷光子晶体结构作为超快全光开关的结构；当信号脉冲入射到该全光开关结构、并透射和反射的过程中，确定反射率最大的泵浦脉冲加入时间，并把这个状态记为一个标准开状态，把无泵浦脉冲情况下低反射率状态记为标准的关状态。本发明的关键特点是泵浦脉冲造成的介电常数变化持续时间极短，远小于中心频率在光子晶体中的驻留时间，而且利用缺陷态的反射率高和低状态作为判断开、关状态的依据。本发明还提供飞秒/阿秒级的、利用动态调制机制的、基于光子晶体缺陷态反射率变化的超快全光开关。

公开(公告)号：CN116190276A

公开(公告)日：2023-05-30

申请号：CN202310199635.8

申请日：2023-03-04

Applicant: 复旦大学

Inventor： 黄俊铭

IPC: H01L21/67 ,  H01L21/66 ,  B07C5/36 ,  B07C5/38

Abstract: 本发明涉及半导体芯片技术领域，具体为一种光电子半导体芯片检测装置及方法，包括支撑架，传送机，检测仪，PLC控制器，驱动组件，收集箱，匀料结构；其中：所述支撑架，为有四根支柱支撑长方形框架组成，用于支撑负载其余部件；所述传送机设置于支撑架上部的框架上；所述检测仪、PLC控制器和驱动组件分别固定安装于支撑架的一侧面。该光电子半导体芯片检测装置及方法，通过检测仪对传送机上传送的芯片进行检测，当检测到芯片不合格时，向PLC控制器发送信号，PLC控制器控制驱动组件将不合格芯片送至收集箱内；并控制收集箱内的匀料结构产生震动，使芯片在收集箱的内部均匀分布，避免芯片相互支撑而浪费收集箱空间容量。