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公开(公告)号：CN115994506A
公开(公告)日：2023-04-21
申请号：CN202111221880.1
申请日：2021-10-20
Applicant: 复旦大学
IPC: G06F30/3312 , G06F30/398
Abstract: 本发明属集成电路技术领域，涉及集成电路可靠性设计中电路时序的老化效应分析，尤其是一种针对数字集成电路时序老化的快速分析方法。本发明中由输入的电路时序路径构建电路图，针对每一种类型的延时单元引入一个老化因子；采用基于Endpoint的关键路径选择方案挑选合适的时序路径构成集合；对该时序路径集合中的每条路径进行基于查表的老化时序分析，建立超定方程的老化时序拟合问题；并利用基于随机Kaczmarz算法高效求解该最小二乘问题，从而获得每种延迟单元的老化因子，最终快速获得所有路径的老化时序的预测结果。实验结果表明，本发明的方法相比工业界传统的电路时序老化分析方法提速7～10倍。
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