公开(公告)号：CN114527372A

公开(公告)日：2022-05-24

申请号：CN202210146483.0

申请日：2022-02-17

Applicant: 复旦大学

Inventor： 吴泽昊 ,  蔡畅 ,  沈磊 ,  俞军 ,  王树 ,  徐灵炎 ,  宁冰旭 ,  沈鸣杰 ,  徐烈伟

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/317 ,  G01R31/3181 ,  G06F17/13

Abstract: 本申请涉及集成电路技术领域，特别涉及一种针对FPGA器件SerDes模块的单粒子效应测试方法及装置，其中，方法包括：利用作为主控器件的第一FPGA器件生成目标码型的第一SBS码；在作为待测试设备的第二FPGA器件传输第一SBS码的过程中，控制第一FPGA器件使得第一SBS码接受辐射，并检测辐射后目标码型的第二SBS码；参照第二SBS码，统计SBS的误码数量和错误类型，生成单粒子效应测试结果。由此，解决了相关技术中对于FPGA器件SerDes模块测试的稳定性低、精确度不高、实时性较差，且测试适用性较差等问题。

公开(公告)号：CN116401991A

公开(公告)日：2023-07-07

申请号：CN202310391062.9

申请日：2023-04-12

Applicant: 复旦大学

Inventor： 蔡畅 ,  高帅 ,  张靖 ,  陈更生 ,  沈鸣杰 ,  徐烈伟 ,  俞军

IPC: G06F30/343 ,  G06F111/08 ,  G06F117/02

Abstract: 本发明公开了一种FPGA的单粒子多位翻转处理方法、装置、FPGA和介质。所述方法包括：确定FPGA的资源对应的物理地址、FPGA位流区域和资源状态；对FPGA进行辐射实验，并根据FPGA的资源对应的物理地址、FPGA位流区域和资源状态，提取在数据提取周期内的故障时间中设定空间的m个元素M，提取在数据提取周期内的故障时间中设定控件的元素Mi和元素Mj，确定偏移集，根据偏移集确定FPGA的单粒子多位翻转，并制定加固策略。采用本方法能够在辐射实验中直接解析FPGA内部发生的单粒子多位翻转，从而针对FPGA内部发生的单粒子多位翻转制定加固策略，提高FPGA系统的可靠性。