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公开(公告)号：CN105932540A
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201610372668.8
申请日：2016-05-31
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于导波光学技术领域，具体为一种产生均匀倏逝波场的系统。本发明系统包括:一个“折射率隙”结构和一套光束引导机构；折射率隙结构为由两块高折射率的横截面为梯形的平板材料，以及夹于其中的低折射率层所构成的平面型三层结构；一束激发光被光束引导机构分束后对称引导入折射率隙中的两个高折射率层中，并对称入射于低折射率层的界面，且入射角等于其全内反射角；两束光的强度和相位由可变分束镜和相位延迟器调节。采用本发明的可以在低折射率间隙层中产生均匀的倏逝波场，可用于材料的微纳结构分析或传感应用。
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公开(公告)号：CN103983609A
公开(公告)日：2014-08-13
申请号：CN201410197325.3
申请日：2014-05-12
Applicant: 复旦大学
CPC classification number: G01N21/45
Abstract: 本发明属于光学材料测量技术领域，具体为一种基于光谱干涉的透明材料折射率及厚度测量装置和测量方法。本发明测量装置包括：一低相干度光源、分束镜,两片平板玻璃组成的F-P腔,二维样品台、待测样品、聚焦透镜、耦合光纤、光谱仪和计算机；测量时将F-P腔调至使入射光垂直入射，待测量样品插入腔内并使光束垂直入射样品表面，通过测量样品放入腔内前后的两幅光谱数据，就可以计算出样品的几何厚度d和群速折射率ng；本发明测量装置结构简单，测量方法操作简便，测量精度高。系统易于制成小型化和便携式装置。
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公开(公告)号：CN105278186A
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201510754780.3
申请日：2015-11-09
Applicant: 复旦大学
IPC: G02F1/1347 , G02F1/1337
CPC classification number: G02F1/13476 , G02F1/133723
Abstract: 本发明属于导波光学技术领域，具体为一种表面倏逝场强度可调谐的复合平面光波导。本发明设计的复合平面光波导结构包括:主导层和调谐层，主导层由玻璃基底和镀制于其上的周期性多层膜构成，调谐层由一层有效排列的液晶层和其衬底层构成；主导层和调谐层上下叠合构成复合平面波导。当对液晶层施加一定的外加电压后,可以显著改变复合结构的导模谱,同时改变导模场的强度,从而也改变在周期性多层膜外的倏逝场的强度。这种可调谐的表面倏逝场可用于微纳材料(尤其是有机或生物样品)的近场激发,以分析其结构信息。
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公开(公告)号：CN103983610A
公开(公告)日：2014-08-13
申请号：CN201410197332.3
申请日：2014-05-12
Applicant: 复旦大学
IPC: G01N21/45
Abstract: 本发明属于光学材料测量技术领域，具体为一种基于光谱干涉的微量液体折射率测量装置和测量方法。本发明测量装置包括：一低相干度光源、Michelson干涉系统,二维样品台，容积可调样品池、聚焦透镜、耦合光纤、光谱仪和计算机；测量时,先将样品池容积(面积和厚度)调至适当,测量参考臂和样品臂的干涉光谱,得出空样品池的厚度；然后再将微量待测液体滴入样品池隙口,并使光束垂直入射样品池表面,测量干涉光谱,并得到对光谱进行Fourier变换，可得到待测量液体样品的群折射率。本发明测量装置结构简单，测量方法操作简便，测量精度高。
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公开(公告)号：CN103575701A
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：CN201310501611.X
申请日：2013-10-23
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于光学材料测量技术领域，具体为一种基于频域OCT的透明材料折射率及厚度测量方法和装置。测量装置包括：一低相干度光源、Michelson干涉系统及参考臂和样品臂的光束挡板、四维样品台、待测样品、聚焦透镜、耦合光纤、光谱仪和计算机；测量时样品不需要紧帖反射镜，只要将样品固定在四维样品台上,通过测量样品放入样品臂前后的三幅光谱数据,就可以计算出样品的几何厚度d和群速折射率ng；通过水平旋转,改变光束对样品的入射角，记录一系列入射角对应的光谱,就能拟合出样品的相速折射率np,进而计算出样品的一阶色散。本发明测量装置结构简单，测量方法操作简便，测量精度高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103983610B
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201410197332.3
申请日：2014-05-12
Applicant: 复旦大学
IPC: G01N21/45
Abstract: 本发明属于光学材料测量技术领域，具体为一种基于光谱干涉的微量液体折射率测量装置和测量方法。本发明测量装置包括：一低相干度光源、Michelson 干涉系统,二维样品台，容积可调样品池、聚焦透镜、耦合光纤、光谱仪和计算机；测量时,先将样品池容积(面积和厚度)调至适当,测量参考臂和样品臂的干涉光谱,得出空样品池的厚度；然后再将微量待测液体滴入样品池隙口,并使光束垂直入射样品池表面,测量干涉光谱,并得到对光谱进行Fourier变换，可得到待测量液体样品的群折射率。本发明测量装置结构简单，测量方法操作简便，测量精度高。
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公开(公告)号：CN102591076A
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN201210056249.5
申请日：2012-03-06
Applicant: 复旦大学
IPC: G02F1/1343
Abstract: 本发明属于液晶显示器技术领域，具体涉及一种透射辅助反射的透反式液晶显示器。该液晶显示器的每一个像素被分成透射和反射两个区域，透射区位于像素的中央部分,像素的其余较大部分为反射区；在透射区的基板与背光板之间装有微透镜以汇聚背光,增加其在透射区的光通量。在环境亮度较高时,可以关闭背光,液晶面板利用较大的像素反射区域进行反射式显示；当环境亮度较低使反射式显示效果较差时,可开启背光,利用透射光补充反射光的不足,同时进行透射和反射式显示。这种液晶显示器具有适应不同环境亮度的特点,可达到节能降耗并改善显示效果的目的。
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公开(公告)号：CN105932540B
公开(公告)日：2018-10-26
申请号：CN201610372668.8
申请日：2016-05-31
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于导波光学技术领域，具体为一种产生均匀倏逝波场的系统。本发明系统包括:一个“折射率隙”结构和一套光束引导机构；折射率隙结构为由两块高折射率的横截面为梯形的平板材料，以及夹于其中的低折射率层所构成的平面型三层结构；一束激发光被光束引导机构分束后对称引导入折射率隙中的两个高折射率层中，并对称入射于低折射率层的界面，且入射角等于其全内反射角；两束光的强度和相位由可变分束镜和相位延迟器调节。采用本发明的可以在低折射率间隙层中产生均匀的倏逝波场，可用于材料的微纳结构分析或传感应用。
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公开(公告)号：CN105628651A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201610155589.1
申请日：2016-03-18
Applicant: 复旦大学
IPC: G01N21/41
CPC classification number: G01N21/41 , G01N2021/4166
Abstract: 本发明属于导波光学技术领域，具体为一种基于表面波倏逝场强度变化的痕量液体或气体折射率测量装置。本发明的测量装置包括：测量光束，半柱形耦合透镜，波导衬底层，导流层接入口，导流层，导流层接出口，玻璃基底，周期性介质膜层，波导覆盖层，锥形光纤探头，传导光纤，光电测量系统。当导流层内被导入不同的待测液体或气体时，在波导覆盖层中的表面波倏逝场强度将会在较大范围内呈现单调变化，这个变化可由锥形光纤探头及传导光纤传入光电测量系统测量得到。采用本发明的装置可以进行折射率的精确测量及传感应用。
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公开(公告)号：CN103575701B
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201310501611.X
申请日：2013-10-23
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于光学材料测量技术领域，具体为一种基于频域OCT的透明材料折射率及厚度测量方法和装置。测量装置包括：一低相干度光源、Michelson干涉系统及参考臂和样品臂的光束挡板、四维样品台、待测样品、聚焦透镜、耦合光纤、光谱仪和计算机；测量时样品不需要紧帖反射镜，只要将样品固定在四维样品台上,通过测量样品放入样品臂前后的三幅光谱数据,就可以计算出样品的几何厚度d和群速折射率ng；通过水平旋转,改变光束对样品的入射角，记录一系列入射角对应的光谱,就能拟合出样品的相速折射率np,进而计算出样品的一阶色散。本发明测量装置结构简单，测量方法操作简便，测量精度高。
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