-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103575701B
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201310501611.X
申请日：2013-10-23
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于光学材料测量技术领域，具体为一种基于频域OCT的透明材料折射率及厚度测量方法和装置。测量装置包括：一低相干度光源、Michelson干涉系统及参考臂和样品臂的光束挡板、四维样品台、待测样品、聚焦透镜、耦合光纤、光谱仪和计算机；测量时样品不需要紧帖反射镜，只要将样品固定在四维样品台上,通过测量样品放入样品臂前后的三幅光谱数据,就可以计算出样品的几何厚度d和群速折射率ng；通过水平旋转,改变光束对样品的入射角，记录一系列入射角对应的光谱,就能拟合出样品的相速折射率np,进而计算出样品的一阶色散。本发明测量装置结构简单，测量方法操作简便，测量精度高。
-
公开(公告)号：CN103983610A
公开(公告)日：2014-08-13
申请号：CN201410197332.3
申请日：2014-05-12
Applicant: 复旦大学
IPC: G01N21/45
Abstract: 本发明属于光学材料测量技术领域，具体为一种基于光谱干涉的微量液体折射率测量装置和测量方法。本发明测量装置包括：一低相干度光源、Michelson干涉系统,二维样品台，容积可调样品池、聚焦透镜、耦合光纤、光谱仪和计算机；测量时,先将样品池容积(面积和厚度)调至适当,测量参考臂和样品臂的干涉光谱,得出空样品池的厚度；然后再将微量待测液体滴入样品池隙口,并使光束垂直入射样品池表面,测量干涉光谱,并得到对光谱进行Fourier变换，可得到待测量液体样品的群折射率。本发明测量装置结构简单，测量方法操作简便，测量精度高。
-
公开(公告)号：CN103575701A
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：CN201310501611.X
申请日：2013-10-23
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于光学材料测量技术领域，具体为一种基于频域OCT的透明材料折射率及厚度测量方法和装置。测量装置包括：一低相干度光源、Michelson干涉系统及参考臂和样品臂的光束挡板、四维样品台、待测样品、聚焦透镜、耦合光纤、光谱仪和计算机；测量时样品不需要紧帖反射镜，只要将样品固定在四维样品台上,通过测量样品放入样品臂前后的三幅光谱数据,就可以计算出样品的几何厚度d和群速折射率ng；通过水平旋转,改变光束对样品的入射角，记录一系列入射角对应的光谱,就能拟合出样品的相速折射率np,进而计算出样品的一阶色散。本发明测量装置结构简单，测量方法操作简便，测量精度高。
-
公开(公告)号：CN103983609A
公开(公告)日：2014-08-13
申请号：CN201410197325.3
申请日：2014-05-12
Applicant: 复旦大学
CPC classification number: G01N21/45
Abstract: 本发明属于光学材料测量技术领域，具体为一种基于光谱干涉的透明材料折射率及厚度测量装置和测量方法。本发明测量装置包括：一低相干度光源、分束镜,两片平板玻璃组成的F-P腔,二维样品台、待测样品、聚焦透镜、耦合光纤、光谱仪和计算机；测量时将F-P腔调至使入射光垂直入射，待测量样品插入腔内并使光束垂直入射样品表面，通过测量样品放入腔内前后的两幅光谱数据，就可以计算出样品的几何厚度d和群速折射率ng；本发明测量装置结构简单，测量方法操作简便，测量精度高。系统易于制成小型化和便携式装置。
-
公开(公告)号：CN103983610B
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201410197332.3
申请日：2014-05-12
Applicant: 复旦大学
IPC: G01N21/45
Abstract: 本发明属于光学材料测量技术领域，具体为一种基于光谱干涉的微量液体折射率测量装置和测量方法。本发明测量装置包括：一低相干度光源、Michelson 干涉系统,二维样品台，容积可调样品池、聚焦透镜、耦合光纤、光谱仪和计算机；测量时,先将样品池容积(面积和厚度)调至适当,测量参考臂和样品臂的干涉光谱,得出空样品池的厚度；然后再将微量待测液体滴入样品池隙口,并使光束垂直入射样品池表面,测量干涉光谱,并得到对光谱进行Fourier变换，可得到待测量液体样品的群折射率。本发明测量装置结构简单，测量方法操作简便，测量精度高。
-
-
-
-
Search Results
5
records
(took 0.015 seconds)
