公开(公告)号：CN105868427B

公开(公告)日：2019-12-20

申请号：CN201510028575.9

申请日：2015-01-20

Applicant: 复旦大学

Inventor： 曾璇 ,  严昌浩 ,  王胜国 ,  吴震宇

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明属半导体可制造性设计领域，具体涉及考虑深亚微米工艺扰动的SRAM快速失效概率仿真计算方法。本方法中，通过在参数空间内进行椭球体变换，并采用自适应网格划分和滑动窗口方法，该方法能大幅减小采样量，获得符合精度要求的SRAM失效概率以及参数空间的失效边界信息。本发明采用精确的SPICE仿真，不依赖经验和半经验的模型；且仿真过程精度高、仿真次数少，能达到快速计算的目的；本发明方法不仅得到SRAM失效概率而且得到参数空间失效边界分布，有利于电路的优化设计。

公开(公告)号：CN105868427A

公开(公告)日：2016-08-17

申请号：CN201510028575.9

申请日：2015-01-20

Applicant: 复旦大学

Inventor： 曾璇 ,  严昌浩 ,  王胜国 ,  吴震宇

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明属半导体可制造性设计领域，具体涉及考虑深亚微米工艺扰动的SRAM快速失效概率仿真计算方法。本方法中，通过在参数空间内进行椭球体变换，并采用自适应网格划分和滑动窗口方法，该方法能大幅减小采样量，获得符合精度要求的SRAM失效概率以及参数空间的失效边界信息。本发明采用精确的SPICE仿真，不依赖经验和半经验的模型；且仿真过程精度高、仿真次数少，能达到快速计算的目的；本发明方法不仅得到SRAM失效概率而且得到参数空间失效边界分布，有利于电路的优化设计。

公开(公告)号：CN101232358A

公开(公告)日：2008-07-30

申请号：CN200710002717.X

申请日：2007-01-23

Applicant: 复旦大学 ,  华为技术有限公司

Inventor： 刘琦 ,  郭心悦 ,  吴震宇 ,  胡波 ,  王吉滨 ,  魏波

IPC: H04L5/14 ,  H04L27/00 ,  H04B7/02

Abstract: 本发明公开了一种在多输入多输出系统中信道盲均衡方法，该方法包括：发送端在各发射天线上的数据信号中分别添加前缀，得到自相关函数满足自相关独立条件的发送信号，并发送；接收端各接收天线接收所述发送信号，并对所述接收信号进行基于自相关匹配原理的信道盲均衡。本发明还公开了一种实现信道盲均衡的系统。根据本发明公开的方法和系统，能够降低实现信道盲均衡的系统复杂度，提高系统误比特率性能。