具有投射衬垫的相变存储器单元
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116569667A

    公开(公告)日:2023-08-08

    申请号:CN202180081265.7

    申请日:2021-11-18

    Abstract: 一种半导体结构(100),包括:被第二电介质层(114)包围的加热器(116);在第二电介质层(114)的顶部上的投射衬垫(124);以及在投射衬垫(124)上方的相变材料层(126)。投射衬垫(124)的顶表面与加热器(116)的顶表面基本上齐平。投射衬垫(124)将相变材料层(126)与第二电介质层(114)分隔开。投射衬垫(124)可以在相变材料层(126)的结晶相(126a)和无定形相(126b)中提供平行的传导路径。半导体结构(100)可包括在加热器(116)下方并与加热器(116)电接触的底部电极(110)和在相变材料层(126)上方并与相变材料层(126)电接触的顶部电极(128)。

    集成的肖特基二极管相变存储器装置

    公开(公告)号:CN116584169A

    公开(公告)日:2023-08-11

    申请号:CN202180080719.9

    申请日:2021-11-05

    Abstract: 一种非易失性存储器结构可以包括相变存储器,该相变存储器包括相变材料。所述非易失性存储器结构可以包括与相变存储器串联的肖特基二极管,其中肖特基二极管的肖特基势垒是相变存储器的表面。这可以通过适当选择用于相变存储器的接触的材料来实现。这可以产生集成二极管‑存储器结构,其可以控制电流的方向性而不会对结构的占用面积造成不利影响。

    相变存储器单元
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116635937A

    公开(公告)日:2023-08-22

    申请号:CN202180081316.6

    申请日:2021-11-18

    Abstract: 一种半导体结构(100),包括:由电介质层(114)包围的加热器(116);在加热器(116)的顶部部分上的投射衬垫(124);在投射衬垫(124)上方的相变材料层(126);以及包围相变材料层(126)的顶部的顶部电极触点(136)。投射衬垫可覆盖加热器(116)的顶表面。投射衬垫(124)可以将相变材料层(126)与第二电介质层和加热器(116)分隔开。投射衬垫(124)可以在相变材料层(126)的结晶相(126a)和无定形相(126b)中提供平行的传导路径。顶部电极触点(136)可以通过金属衬垫(134)与相变材料层(126)分隔开。半导体结构(100)可包括在加热器(116)下方并与加热器(116)电接触的底部电极(110)和在相变材料层(126)上方并与相变材料层(126)电接触的顶部电极(128)。

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