高压电气设备非接触式荧光测温系统

    公开(公告)号:CN103698047A

    公开(公告)日:2014-04-02

    申请号:CN201310639058.6

    申请日:2013-12-02

    IPC分类号: G01K11/32

    摘要: 本发明涉及一种高压电气设备非接触式荧光测温系统,该高压电气设备非接触式荧光测温系统包括电源、控制单元、激励光源、光纤温度传感器、荧光信号检测单元、数据采集单元以及显示单元;电源与显示单元分别与控制单元相连;控制单元通过激励光源与光纤温度传感器相连;光纤温度传感器依次通过荧光信号检测单元以及数据采集单元接入控制单元。本发明提供了一种可以实现1.5米内的非接触测温且同时具有较强的抗电磁干扰性和抗干扰性能的高压电气设备非接触式荧光测温系统。

    一种基于X射线的空间目标多维信息获取系统及方法

    公开(公告)号:CN113267784B

    公开(公告)日:2024-05-10

    申请号:CN202110564889.6

    申请日:2021-05-24

    IPC分类号: G01S17/06 G01N23/203

    摘要: 本发明公开了一种基于X射线的空间目标多维信息获取系统及方法,本发明利用微焦斑超短脉冲X射线源发射X射线,通过X射线准直光学准直后照射至空间目标,从而产生背散射X射线与特征X射线;背散射X射线与特征X射线经X射线聚焦光学聚焦后被X射线单光子探测器接收,多维信息处理单元从X射线单光子探测器的信号中取空间目标表面组分信息、内部组成材料信息,并结合光子到达时间,实现对待监测空间目标内、外部结构的三维重建。突破了现有空间目标探测局限,填补对日目标探测技术空白,解决全天时全空域空间目标多维信息识别问题。

    基于光子计数的三维图像信噪分离和混合正则化重构方法

    公开(公告)号:CN107798290B

    公开(公告)日:2020-06-16

    申请号:CN201710828848.7

    申请日:2017-09-14

    IPC分类号: G06K9/00 G06K9/62 G01S7/48

    摘要: 为了解决采用光子计数探测器的三维成像激光雷达在强噪声环境下工作性能下降的技术问题,本发明提供了一种基于光子计数的三维图像信噪分离和混合正则化重构方法,采用滑动时间窗法确定每一个像素上的信号聚类集,并滤除信号聚类集时间窗口以外的噪声计数;若某像素上既没有信号计数也没有噪声计数时,借用邻域像素上的计数信息,用空间累积来代替时间累积过程构造超像素,之后再次采用滑动时间窗口法滤除噪声;最后,利用结合全变分正则项、小波正则项和轮廓波正则项的混合正则化方法对初步滤噪图像进行再次处理,最终得到高质量的三维图像。本发明在强背景噪声情况下,能有效地将信号光子从噪声中分离出来,实现目标三维图像的快速精确重构。

    一种基于X射线的空间目标多维信息获取系统及方法

    公开(公告)号:CN113267784A

    公开(公告)日:2021-08-17

    申请号:CN202110564889.6

    申请日:2021-05-24

    IPC分类号: G01S17/06 G01N23/203

    摘要: 本发明公开了一种基于X射线的空间目标多维信息获取系统及方法,本发明利用微焦斑超短脉冲X射线源发射X射线,通过X射线准直光学准直后照射至空间目标,从而产生背散射X射线与特征X射线;背散射X射线与特征X射线经X射线聚焦光学聚焦后被X射线单光子探测器接收,多维信息处理单元从X射线单光子探测器的信号中取空间目标表面组分信息、内部组成材料信息,并结合光子到达时间,实现对待监测空间目标内、外部结构的三维重建。突破了现有空间目标探测局限,填补对日目标探测技术空白,解决全天时全空域空间目标多维信息识别问题。

    衍射光栅非规则激光焦斑图像自适应聚焦方法及聚焦装置

    公开(公告)号:CN104678561B

    公开(公告)日:2017-04-05

    申请号:CN201310644294.7

    申请日:2013-12-02

    IPC分类号: G02B27/44 G01M11/02 H04N5/232

    摘要: 本发明提供一种衍射光栅非规则激光焦斑图像自适应聚焦方法,包括以下步骤:1】通过CCD采集一幅衍射光栅非规则激光焦斑图像到计算机;2】将步骤1中采集到的非规则激光焦斑图像进行图像形心位置计算:3】将步骤2中计算的衍射光栅非规则激光焦斑图像的形心位置与CCD靶面中心位置进行比较;4】用CCD重新采集一幅图像到计算机;5】计算步骤4采集到的衍射光栅非规则激光焦斑图像对应的有效二值图像;6】计算并保存步骤5所得图像的长短轴长之间的差值;7】将之前获得的两副图像的长短轴的差值进行比较;8】重复步骤1到步骤7的操作,直至衍射光栅非规则激光焦斑图像的面积最小时聚焦调整结束。

    抗阻塞式电磁干扰的近炸引信量子近程探测系统和方法

    公开(公告)号:CN106989646B

    公开(公告)日:2018-08-03

    申请号:CN201710287734.6

    申请日:2017-04-27

    IPC分类号: F42C21/00

    摘要: 本发明属于引信技术领域,具体涉及种抗阻塞式电磁干扰的近炸引信量子近程探测系统和方法。该系统包括量子纠缠源装置、分束装置、电磁波发射装置、电磁波接收装置、电磁波驻留延迟装置、联合关联测量装置、量子估值判决装置和引爆装置;量子纠缠源装置与分束装置相连,分束装置分别与电磁波发射装置和电磁波驻留延迟装置相连,电磁波驻留延迟装置和电磁波接收装置均与联合关联测量装置相连,联合关联测量装置与量子估值判决装置相连,量子估值判决装置与引爆装置相连。本发明无需放大或只要很少级次的放大就能做出判定,从而避免了为了从强干扰信号中检测出微弱探测信号而进行放大造成近炸电磁引信损坏的问题,具有抗阻塞式电磁干扰的能力。

    抗阻塞式电磁干扰的近炸引信量子近程探测系统和方法

    公开(公告)号:CN106989646A

    公开(公告)日:2017-07-28

    申请号:CN201710287734.6

    申请日:2017-04-27

    IPC分类号: F42C21/00

    CPC分类号: F42C21/00

    摘要: 本发明属于引信技术领域,具体涉及一种抗阻塞式电磁干扰的近炸引信量子近程探测系统和方法。该系统包括量子纠缠源装置、分束装置、电磁波发射装置、电磁波接收装置、电磁波驻留延迟装置、联合关联测量装置、量子估值判决装置和引爆装置;量子纠缠源装置与分束装置相连,分束装置分别与电磁波发射装置和电磁波驻留延迟装置相连,电磁波驻留延迟装置和电磁波接收装置均与联合关联测量装置相连,联合关联测量装置与量子估值判决装置相连,量子估值判决装置与引爆装置相连。本发明无需放大或只要很少级次的放大就能做出判定,从而避免了为了从强干扰信号中检测出微弱探测信号而进行放大造成近炸电磁引信损坏的问题,具有抗阻塞式电磁干扰的能力。

    一种科学级CCD的非线性度标定方法

    公开(公告)号:CN102853903B

    公开(公告)日:2014-07-02

    申请号:CN201110176043.1

    申请日:2011-06-28

    IPC分类号: G01J1/00

    摘要: 本发明涉及一种基于激光干涉对科学级CCD的线性度指标进行标定的方法。该述方法包括以下步骤:1)获取已知光场强度分布的干涉光场并将其入射至科学级CCD;2)科学级CCD接收来自步骤1)的已知光场强度分布的干涉光场后输出干涉光场所对应的含有干涉条纹的干涉图像;3)绘制光场强度-灰度分布曲线;7)由非线性度公式分析计算CCD的非线性。本发明提供了一种随机电子噪声影响小、非线性度测量精度高以及非线性度标定结果准确的科学级CCD的非线性度标定方法。

    基于光场均匀性传递的平行光场强度均匀性的认定方法及系统

    公开(公告)号:CN102042873B

    公开(公告)日:2012-06-06

    申请号:CN200910218491.6

    申请日:2009-10-23

    IPC分类号: G01J1/42

    摘要: 一种基于光场均匀性传递的平行光场强度均匀性的认定方法,该方法包括以下步骤:1)校准CCD器件:2)平行光场强度均匀性认定。本发明采用积分球将均匀强度标准传递至CCD,解决了均匀强度基准问题;本发明采用奇异点剔除、“标准块”方法进一步降低了CCD器件电子噪声的影响,保证了基准的精度;本发明采用旋转、平移方式实现了小靶面的CCD对大口径光场均匀性的认定,提高了分辨率;本发明采用以上方法认定的光场均匀性误差是确定的,即选定“标准块”时设定的误差是确定,能够精确测量平行光场的强度。