一种深空探测用材料综合辐射屏蔽性能的筛选方法

    公开(公告)号:CN118471403B

    公开(公告)日:2025-03-07

    申请号:CN202410668381.4

    申请日:2024-05-28

    Abstract: 本发明公开了一种深空探测用材料综合辐射屏蔽性能的筛选方法,属于辐射防护领域。本方法综合考虑了材料在深空探测辐射环境中的辐射屏蔽性能和屏蔽材料的优化设计。筛选流程包括辐射环境的确定、构建模拟辐射环境的带电粒子模型、构造辐射屏蔽材料的几何结构模型、模拟带电粒子在屏蔽材料中的输运行为,基于多个辐射屏蔽材料样本的数据,构造数据库实现材料的优化设计。本发明通过计算深空探测空间辐射环境对材料辐射屏蔽性能的影响,获得不同结构下材料体系的辐射屏蔽性能变化,进而建立辐射环境、材料的结构、性能之间的理论关系,为设计良好屏蔽性能的材料提供重要的理论指导,避免大量的试错实验。

    一种深空探测用材料综合辐射屏蔽性能的筛选方法

    公开(公告)号:CN118471403A

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202410668381.4

    申请日:2024-05-28

    Abstract: 本发明公开了一种深空探测用材料综合辐射屏蔽性能的筛选方法,属于辐射防护领域。本方法综合考虑了材料在深空探测辐射环境中的辐射屏蔽性能和屏蔽材料的优化设计。筛选流程包括辐射环境的确定、构建模拟辐射环境的带电粒子模型、构造辐射屏蔽材料的几何结构模型、模拟带电粒子在屏蔽材料中的输运行为,基于多个辐射屏蔽材料样本的数据,构造数据库实现材料的优化设计。本发明通过计算深空探测空间辐射环境对材料辐射屏蔽性能的影响,获得不同结构下材料体系的辐射屏蔽性能变化,进而建立辐射环境、材料的结构、性能之间的理论关系,为设计良好屏蔽性能的材料提供重要的理论指导,避免大量的试错实验。

Patent Agency Ranking