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公开(公告)号:CN113899487B
公开(公告)日:2022-06-14
申请号:CN202111037497.0
申请日:2021-09-06
IPC: G01L5/173
Abstract: 本发明公开了一种空间三维残余应力超声检测方法,属于超声检测技术领域。步骤一、推导三向应力状态下声弹性方程;步骤二、根据所述三向应力状态下声弹性方程,确定空间三维残余应力超声检测方案。本发明通过理论推导得到三向应力状态下的声弹性方程,并基于此进一步得到了三维空间残余应力的检测方案。本发明提出的三维空间残余应力的检测方法,操作简单,成本较低,具有可行性,解决了现有传统残余应力只能实现单轴或平面检测的不足。同时也为后续三维空间残余应力检测的进一步研究提供了一定的想法与方向。
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公开(公告)号:CN104933271B
公开(公告)日:2018-01-23
申请号:CN201510413793.4
申请日:2015-07-15
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种ANSYS中等厚度二次曲面光学头罩有限元模型的建立方法,其步骤如下:一、确定二次曲线方程,并将其转化为函数形式;二、依据要建立模型的开口方向选定自变量并确定自变量的范围;三、基于APDL编写循环命令建立疏密分布的关键点;四、基于APDL使用B样条线段命令BSPLINE形成初步样条曲线;五、对步骤四中的初步样条线进行线段的融合;六、连接步骤五中融合后的线段形成平面;七、对步骤六中所形成的面进行网格划分;八、对步骤七中形成的有限元模型旋转成体。本发明所提出的方法解决了在ANSYS中直接建立二次曲面模型难的问题且相比较直接采用用户界面进行分析的过程,避免了同一类问题多次进行加载费事、费力、易错等缺点。
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公开(公告)号:CN113899487A
公开(公告)日:2022-01-07
申请号:CN202111037497.0
申请日:2021-09-06
IPC: G01L5/173
Abstract: 本发明公开了一种空间三维残余应力超声检测方法,属于超声检测技术领域。步骤一、推导三相应力状态下声弹性方程;步骤二、根据所述三相应力状态下声弹性方程,确定空间三维残余应力超声检测方案。本发明通过理论推导得到三向应力状态下的声弹性方程,并基于此进一步得到了三维空间残余应力的检测方案。本发明提出的三维空间残余应力的检测方法,操作简单,成本较低,具有可行性,解决了现有传统残余应力只能实现单轴或平面检测的不足。同时也为后续三维空间残余应力检测的进一步研究提供了一定的想法与方向。
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公开(公告)号:CN104181905B
公开(公告)日:2016-09-14
申请号:CN201410471644.9
申请日:2014-09-16
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G05B19/418
CPC classification number: Y02P90/02
Abstract: 基于期望闭环传递函数的伺服系统控制器优化方法,本发明涉及基于期望闭环传递函数的伺服系统控制器优化方法。本发明的目的是为了解决目前提供的控制器没有建立频响指标和控制器参数之间的定量关系,设计结果的好坏很大程度上取决于设计者的经验,不能保证闭环系统性能是最优的,对于双十控制器优化方法较少报道。基于期望闭环传递函数的伺服系统控制器优化方法具体为:步骤一、确定被控对象的传递函数;步骤二、构造期望闭环传递函数的结构形式;步骤三、建立系统频响指标、剪切频率和稳定裕度约束条件与期望闭环传递函数参数之间的数学关系;步骤四、得到优化的期望闭环传递函数的参数;步骤五、求解出控制器。本发明属于控制器优化技术领域。
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公开(公告)号:CN105093523A
公开(公告)日:2015-11-25
申请号:CN201510578682.9
申请日:2015-09-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G02B27/00
CPC classification number: G02B27/0025
Abstract: 本发明公开了一种多尺度多孔径光学成像系统,所述光学成像系统由一个中心光学成像系统和四个拥有完全相同光学结构的副光学成像系统组成,中心光学成像系统为旋转对称系统,光轴与系统中心轴重合,四个副光学成像系统位于中心光学成像系统后方,从像截面上看,四个副光学成像系统光轴分布在以中心光学成像系统光轴为中心的长方形顶点上,目标发出的不同角度的平行光分别通过中心光学成像系统和副光学成像系统成像于在同一探测器像平面内不同坐标点上。应用本系统收集目标物体信息能够获得分立的多幅目标图像,中心图像分辨率高于副图像分辨率,各图像在视场上有一定像素数的重合,能够为后续数据处理提供良好的支持。
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公开(公告)号:CN104992020A
公开(公告)日:2015-10-21
申请号:CN201510400440.0
申请日:2015-07-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种n型Si材料中电子输运问题的Monte Carlo模拟方法,其步骤如下:一、载流子散射机制的确定以及对应输入条件下各种散射率的计算;二、载流子漂移模型的建立以及载流子漂移后能量与波矢量的计算;三、载流子散射模型的建立以及散射类型的选择;四、Monte Carlo方法模拟n型半导体Si材料中电子的输运问题计算程序的实现。本发明使得计算n型Si材料的平均速率以及迁移率变得简单快捷,避免了之前使用实验测试方法受到半导体器件尺寸以及实验条件影响造成的难测试以及误差较大等一系列问题,而且该方法具有较强的可推广性,其他半导体材料载流子输运或微观粒子的碰撞问题也可以通过改变对应的输入参数来进行计算。
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公开(公告)号:CN104933271A
公开(公告)日:2015-09-23
申请号:CN201510413793.4
申请日:2015-07-15
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种ANSYS中等厚度二次曲面光学头罩有限元模型的建立方法,其步骤如下:一、确定二次曲线方程,并将其转化为函数形式;二、依据要建立模型的开口方向选定自变量并确定自变量的范围;三、基于APDL编写循环命令建立疏密分布的关键点;四、基于APDL使用B样条线段命令BSPLINE形成初步样条曲线;五、对步骤四中的初步样条线进行线段的融合;六、连接步骤五中融合后的线段形成平面;七、对步骤六中所形成的面进行网格划分;八、对步骤七中形成的有限元模型旋转成体。本发明所提出的方法解决了在ANSYS中直接建立二次曲面模型难的问题且相比较直接采用用户界面进行分析的过程,避免了同一类问题多次进行加载费事、费力、易错等缺点。
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公开(公告)号:CN104951626B
公开(公告)日:2018-03-30
申请号:CN201510412213.X
申请日:2015-07-14
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种基于ANSYS‑APDL语言开发的复杂热环境下球形光学头罩瞬态热‑结构耦合分析方法,包括以下步骤:一、基于APDL语言的任意球形光学头罩有限元模型的建立;二、基于APDL语言的球形光学头罩计算时间参数以及材料物理参数的确定;三、基于APDL语言的随时间变化的热流密度以及气动压力的换热以及力边界条件的加载;四、基于APDL语言的求解控制以及结果后处理。相比较直接采用用户界面进行分析的过程,本发明避免了同一类问题多次进行加载费事、费力、易错等缺点,而且通过宏的使用成功实现了头罩外表面热流密度和气动压力随时间变化情况下头罩气动热响应的动态计算。
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公开(公告)号:CN104183177B
公开(公告)日:2016-03-30
申请号:CN201410456264.8
申请日:2014-09-10
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开了一种基于失真图像的气动光学效应模拟器,由目标生成系统、分光镜、可变形镜、投影光学系统组成,其中:所述目标生成系统,从物面一侧依次由第一透镜、第二透镜、第三透镜和第四透镜组成;所述投影光学系统,从物面一侧依次由第五透镜、第六透镜、第七透镜、第八透镜、第九透镜、第一反射镜、第二反射镜、第十透镜、第十一透镜、第十二透镜和第十三透镜组成。通过本发明提供的基于失真图像的气动光学效应模拟器,可以在实验室中模拟出飞行器侧窗的光学系统成像质量受气动光学效应影响的情况,为气动光学效应的分析与校正提供了前提基础,并且该方式简单、直观,相对于以往的计算机仿真方法来模拟气动光学效应要精确的多。
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公开(公告)号:CN105068229A
公开(公告)日:2015-11-18
申请号:CN201510503216.4
申请日:2015-08-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G02B17/06
Abstract: 本发明公开了一种低温准直光学系统,所述光学系统由离轴三反系统、第一平面反射镜和第二平面反射镜构成,其中:离轴三反系统由第一椭球面反射镜、双曲面反射镜和第二椭球面反射镜组成;低温黑体发出的光经第一平面反射镜折转45°后,再由第一椭球面反射镜、双曲面反射镜、第二椭球面反射镜反射,最后经第二平面反射镜再折转45°后平行射出。该系统工作波段为3μm~5μm,8μm~12μm,具备结构简单、无中心遮拦、宽波段、可用于低温下等优点。
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