高介电储能聚脲薄膜及其制备方法和应用

    公开(公告)号:CN118388812A

    公开(公告)日:2024-07-26

    申请号:CN202410099974.3

    申请日:2024-01-24

    Abstract: 高介电储能聚脲薄膜及其制备方法和应用,涉及有机高分子功能材料和储能电容器技术领域。本发明聚脲薄膜制备方法,采用二次真空干燥,第一次程序升温至120~140℃下加热24~96h,有效脱除大部分溶剂;薄膜在去离子水中浸泡24~48h,最后在真空烘箱中,程序升温至80~100℃并保温24~72h,彻底除去水和残留的溶剂。本发明的聚脲薄膜制备方法,有利于形成致密薄膜,提高击穿场强和储能密度。本发明可获得高介电储能聚脲薄膜及其制备方法和应用。

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