-
公开(公告)号：CN117849919A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202410105217.2
申请日：2024-01-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G02B3/00 , G02B1/00 , G02B21/36 , G02B27/00 , G02B7/02 , G02B27/28 , G06T7/13 , G06T7/00 , G06F17/13
Abstract: 基于二阶二维微分运算函数超构透镜边缘检测成像方法，它涉及一种超构透镜边缘检测成像方法。本发明为了解决空间光调制器成像质量差、不利于集成且成本较高的问题。本发明的步骤包括：步骤1、通过仿真手段设计并加工具有二阶二维微分运算函数特性的超构透镜；步骤2、搭建以超构透镜为核心进行二阶二维微分运算函数调制的光学系统，通过超构透镜对待测输入图像成像，获得边缘检测图像；步骤3、通过边缘检测图像中的显影，确定输入图像的边缘轮廓，实现边缘检测效果。本发明属于光学显微成像与光学操控技术领域。
-
公开(公告)号：CN117929372B
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202410105242.0
申请日：2024-01-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供了二阶二维微分运算的超构表面边缘检测成像方法和系统，其中，方法包括：基于有限元法和二阶二维微分运算函数对超构表面的单元结构和相位分布进行仿真；基于仿真结果进行超构表面的制备，得到具有二阶二维微分运算函数特性的超构表面；基于所述超构表面构建若干边缘检测单元，基于待测图像的特性选择对应边缘检测单元进行边缘检测，得到所述待测图像的轮廓信息，完成边缘检测。本发明所述技术方案改善了传统基于空间光调制器的三维成像光学系统存在零级高级衍射且难以集成的问题，使元件体积大幅缩小，成像质量得到改善。
-
公开(公告)号：CN117849918B
公开(公告)日：2025-01-28
申请号：CN202410105139.6
申请日：2024-01-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G02B3/00 , G02B1/00 , G02B21/36 , G02B27/00 , G02B7/02 , G02B27/28 , G06T7/13 , G06T7/00 , G06F17/13
Abstract: 本发明提供了一阶二维微分运算的超构透镜边缘检测成像方法和系统，包括：步骤1：设计并加工具有一阶二维微分运算函数特性的超构透镜；步骤2：构建以超构透镜为核心的图像边缘检测模型，基于图像边缘检测模型对待测图像进行成像，得到边缘检测图像；步骤3：基于边缘检测图像获取待测图像的边缘轮廓，完成待测图像的边缘检测成像。本发明使用超构透镜产生一阶二维微分运算函数调制，不仅避免了零级衍射光斑的影响，提高了能量利用率和成像效率，而且提高了系统的集成化和轻量化。将一阶二维微分运算函数的特点与超构透镜的优势相结合，在能够进行高精度边缘检测的同时，降低了系统的复杂程度，使系统更易于集成。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117991418A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410104998.3
申请日：2024-01-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供了一阶二维微分运算的超构表面边缘检测成像方法和系统，其中方法包括：步骤1：设计并加工具有一阶二维微分运算函数特性的超构表面；步骤2：基于超构表面和边缘检测图像模型对待测图像进行成像，得到边缘检测图像；步骤3：基于边缘检测图像获取边缘检测结果。本发明基于传统的一阶二维微分运算函数成像方法，使用超构表面产生一阶二维微分运算函数调制，不仅避免了零级衍射光斑的影响，提高了能量利用率和成像效率，而且提高了系统的集成化和轻量化。将一阶二维微分运算函数的特点与超构表面的优势相结合，在能够进行高精度边缘检测的同时，降低了系统的复杂程度，使系统更易于集成，满足当下边缘检测系统的使用需求。
-
公开(公告)号：CN117991418B
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202410104998.3
申请日：2024-01-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供了一阶二维微分运算的超构表面边缘检测成像方法和系统，其中方法包括：步骤1：设计并加工具有一阶二维微分运算函数特性的超构表面；步骤2：基于超构表面和边缘检测图像模型对待测图像进行成像，得到边缘检测图像；步骤3：基于边缘检测图像获取边缘检测结果。本发明基于传统的一阶二维微分运算函数成像方法，使用超构表面产生一阶二维微分运算函数调制，不仅避免了零级衍射光斑的影响，提高了能量利用率和成像效率，而且提高了系统的集成化和轻量化。将一阶二维微分运算函数的特点与超构表面的优势相结合，在能够进行高精度边缘检测的同时，降低了系统的复杂程度，使系统更易于集成，满足当下边缘检测系统的使用需求。
-
公开(公告)号：CN118037758A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410105318.X
申请日：2024-01-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T7/13 , G02B3/00 , G02B1/00 , G02B21/36 , G02B27/00 , G02B7/02 , G02B27/28 , G06T7/00 , G06F17/13 , G01N21/84 , G01B11/24
Abstract: 基于一阶一维微分运算函数超构表面的边缘检测成像方法，它涉及一种边缘检测成像方法。本发明为了解决空间光调制器成像质量差、不利于集成且成本较高的问题。本发明的步骤包括步骤1、通过仿真手段设计并加工具有一阶一维微分运算函数特性的超构表面；步骤2、搭建以超构表面为核心进行一阶一维微分运算函数调制的光学系统，通过超构表面对待测输入图像成像，获得边缘检测图像；步骤3、通过边缘检测图像中的显影，确定输入图像的边缘轮廓，实现边缘检测效果。本发明属于光学显微成像与光学操控技术领域。
-
公开(公告)号：CN117929372A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202410105242.0
申请日：2024-01-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供了二阶二维微分运算的超构表面边缘检测成像方法和系统，其中，方法包括：基于有限元法和二阶二维微分运算函数对超构表面的单元结构和相位分布进行仿真；基于仿真结果进行超构表面的制备，得到具有二阶二维微分运算函数特性的超构表面；基于所述超构表面构建若干边缘检测单元，基于待测图像的特性选择对应边缘检测单元进行边缘检测，得到所述待测图像的轮廓信息，完成边缘检测。本发明所述技术方案改善了传统基于空间光调制器的三维成像光学系统存在零级高级衍射且难以集成的问题，使元件体积大幅缩小，成像质量得到改善。
-
公开(公告)号：CN117849918A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202410105139.6
申请日：2024-01-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G02B3/00 , G02B1/00 , G02B21/36 , G02B27/00 , G02B7/02 , G02B27/28 , G06T7/13 , G06T7/00 , G06F17/13
Abstract: 本发明提供了一阶二维微分运算的超构透镜边缘检测成像方法和系统，包括：步骤1：设计并加工具有一阶二维微分运算函数特性的超构透镜；步骤2：构建以超构透镜为核心的图像边缘检测模型，基于图像边缘检测模型对待测图像进行成像，得到边缘检测图像；步骤3：基于边缘检测图像获取待测图像的边缘轮廓，完成待测图像的边缘检测成像。本发明使用超构透镜产生一阶二维微分运算函数调制，不仅避免了零级衍射光斑的影响，提高了能量利用率和成像效率，而且提高了系统的集成化和轻量化。将一阶二维微分运算函数的特点与超构透镜的优势相结合，在能够进行高精度边缘检测的同时，降低了系统的复杂程度，使系统更易于集成。
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
8
records
(took 0.019 seconds)
