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公开(公告)号：CN119727695A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411799154.1
申请日：2024-12-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: H03K19/00 , H03K19/0185
Abstract: 一种快速泄放辐射电荷的抗辐射加固电路，涉及半导体集成电路设计领域。本发明是为了解决现有电路级抗辐射加固方式面积大、功耗消耗大、且无法应用在模拟电路的抗辐射加固设计中的问题。本发明电压产生电路用于为电荷泄放电路提供电压以触发电荷泄放电路，使得辐射到电荷泄放电路输出节点的电荷被泄放。当辐射粒子产生的正电荷脉冲使输出端出现正电压脉冲时，正电荷泄放管的栅极出现正电压脉冲，正电荷泄放管导通，负电荷泄放管关闭，使得辐射到输出端的正电荷泄放；当辐射粒子产生的负电荷脉冲使输出端出现负电压脉冲时，负电荷泄放管的栅极出现负电压脉冲，负电荷泄放管导通，正电荷泄放管关闭，使得辐射到输出端的负电荷泄放。
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