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公开(公告)号：CN114113219B
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202111471245.9
申请日：2021-12-03
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 渤海大学 , 北京星航机电装备有限公司
IPC: G01N25/72 , G01N21/3563
Abstract: 本发明涉及一种红外涂层的损伤检测方法及系统，属于涂层损伤检测技术领域，解决了现有技术中涂层损伤检测方法检测准确率差、效率较低的问题。方法包括：采集待测红外涂层的全波段辐射亮度图、两个不同波段的辐射亮度图以及黑体辐射亮度图；根据所述两个不同波段的辐射亮度图，得到待测红外涂层的温度分布图；根据所述温度分布图校正所述黑体辐射亮度图，得到校正后的黑体辐射亮度图；根据所述全波段辐射亮度图和校正后的黑体辐射亮度图，得到待测红外涂层的发射率分布图；基于所述温度分布图和发射率分布图，对待测红外涂层的损伤进行检测。本发明实现了对待测红外涂层损伤的检测，提高了损伤检测准确率和效率。
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公开(公告)号：CN114184569A
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN202111474386.6
申请日：2021-12-03
Applicant: 渤海大学 , 北京星航机电装备有限公司 , 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/3563
Abstract: 本发明涉及一种发射率测量装置的校准方法，属于红外测试领域，解决了现有发射率测量装置校准成本高的问题。校准方法包括：根据需要得到的标准氧化膜的发射率E理论，计算得到标准氧化膜的厚度d；根据氧化膜的厚度d确定电解液的质量浓度c；以质量浓度c的电解液对作为阳极的铝片进行电化学氧化，在铝片表面制备得到标准氧化膜；采用傅里叶红外光谱发射率测量装置检测制备得到的标准氧化膜的发射率E测，E测作为标准发射率；用发射率测量装置测量采用步骤1至步骤3的方法制备得到的一系列已知标准发射率的标准氧化膜，通过测得的数值与标准发射率进行比较，以校准发射率测量装置。本发明的方法能够快速进行发射率测量装置的校准。
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公开(公告)号：CN114184567A
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN202111474422.9
申请日：2021-12-03
Applicant: 渤海大学 , 北京星航机电装备有限公司 , 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及一种红外辐射遮挡装置以及基于该装置的红外探测器标定方法，属于红外测试技术领域，解决了现有标定方法标定精度低的问题。该装置包括：空心圆盘、支撑架、步进电机、电机轴、叶片组、转动轴、套管；支撑架底部与空心圆盘底部固连，支撑架内部为空心结构，上部开有通孔，转动轴末端穿过所述通孔到达支撑架空心结构中，电机轴上端穿过支撑架空心结构与转动轴末端通过齿轮咬合；转动轴外侧设有套管，套管与支撑架固连；叶片组由多个相同结构的叶片组成，最前端叶片与转动轴固连，最末端叶片与支撑架固连，其余叶片套接在套管上，相邻叶片之间还设置有相互配合的凸起结构，用于实现叶片联动，以实现不同面积的遮挡面。
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公开(公告)号：CN114166748B
公开(公告)日：2024-01-02
申请号：CN202111470597.2
申请日：2021-12-03
Applicant: 渤海大学 , 北京星航机电装备有限公司 , 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及一种基于积分球反射法的半球发射率测量装置，属于半球发射率测量技术领域，解决了现有测量装置难以实现不同角度辐射下，样品沿测试平面法线角度的辐射亮度采集，从而无法精确的求解不同光源辐射角度下样品的半球发射率的问题。本发明通过运动机构带动射线源在积分球内部运动；并通过所述探测器接收反射后的射线。舵机带动绕线轮旋转，绕线轮通过丝线拉动滑块沿滑轨滑移，使连接杆转动，对射线源进行位置调整，实现了对样品发射率的多角度测量，提高了测量精度。
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公开(公告)号：CN114184569B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202111474386.6
申请日：2021-12-03
Applicant: 渤海大学 , 北京星航机电装备有限公司 , 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/3563
Abstract: 本发明涉及一种发射率测量装置的校准方法，属于红外测试领域，解决了现有发射率测量装置校准成本高的问题。校准方法包括：根据需要得到的标准氧化膜的发射率E理论，计算得到标准氧化膜的厚度d；根据氧化膜的厚度d确定电解液的质量浓度c；以质量浓度c的电解液对作为阳极的铝片进行电化学氧化，在铝片表面制备得到标准氧化膜；采用傅里叶红外光谱发射率测量装置检测制备得到的标准氧化膜的发射率E测，E测作为标准发射率；用发射率测量装置测量采用步骤1至步骤3的方法制备得到的一系列已知标准发射率的标准氧化膜，通过测得的数值与标准发射率进行比较，以校准发射率测量装置。本发明的方法能够快速进行发射率测量装置的校准。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114134546B
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202111471042.X
申请日：2021-12-03
Applicant: 北京星航机电装备有限公司 , 渤海大学 , 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及一种积分球及其制备方法，该方法包括：提供多个壳分体，所述多个壳分体相组合能够形成空心的球体；在所述多个壳分体的至少内表面形成含锌膜；以及通过电镀工艺在所述含锌膜上形成含金膜。本发明的积分球的制备方法，流程简单，所涉及的化学反应完成周期短，且无需太长时间的静置干燥，大大节省了制备时间；且所制得的积分球内的膜层具有较强的附着力。
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公开(公告)号：CN115236117A
公开(公告)日：2022-10-25
申请号：CN202210922275.5
申请日：2022-08-02
Applicant: 北京星航机电装备有限公司 , 哈尔滨工业大学 , 中国电子科技集团公司第五十三研究所
Abstract: 本发明公开了一种热防护材料的低温性能试验系统，属于热防护材料测试技术领域；解决了现有低温测试装置制冷成本高以及制冷不稳定的技术问题。本发明的低温性能试验系统包括炉体、低温容器和制冷机；低温容器和制冷机均设于炉体内；制冷机与低温容器连通并能够对低温容器进行制冷；低温容器内设有隔离套筒和导热套筒，隔离套筒设于导热套筒的上方，隔离套筒的顶端与炉体接触，隔离套筒的底端嵌在导热套筒顶面设置的环状凹槽内，隔离套筒与导热套筒相连通且两者同轴线设置；导热套筒内部的区域构成试样腔体；导热套筒上设有加热元件，加热元件用于对试样腔体加热。本发明能够实现热防护材料试样的稳定、低成本制冷。
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公开(公告)号：CN114113219A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111471245.9
申请日：2021-12-03
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 渤海大学 , 北京星航机电装备有限公司
IPC: G01N25/72 , G01N21/3563
Abstract: 本发明涉及一种红外涂层的损伤检测方法及系统，属于涂层损伤检测技术领域，解决了现有技术中涂层损伤检测方法检测准确率差、效率较低的问题。方法包括：采集待测红外涂层的全波段辐射亮度图、两个不同波段的辐射亮度图以及黑体辐射亮度图；根据所述两个不同波段的辐射亮度图，得到待测红外涂层的温度分布图；根据所述温度分布图校正所述黑体辐射亮度图，得到校正后的黑体辐射亮度图；根据所述全波段辐射亮度图和校正后的黑体辐射亮度图，得到待测红外涂层的发射率分布图；基于所述温度分布图和发射率分布图，对待测红外涂层的损伤进行检测。本发明实现了对待测红外涂层损伤的检测，提高了损伤检测准确率和效率。
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公开(公告)号：CN101382999A
公开(公告)日：2009-03-11
申请号：CN200810137353.0
申请日：2008-10-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06K9/00
Abstract: 一种快速高效的指纹细化方法，它涉及一种指纹细化方法，以解决现有的指纹细化方法存在的细化不彻底、细化后的纹线不是单像素、影响指纹识别的准确性的问题。快速细化：先判断出待细化图像中指纹纹线的边界点，然后逐步将指纹纹线的边界点删除，得到快速细化图像；OPTA细化：使用OPTA细化方法的消除模板和保留模板，将快速细化图像变成单相素图像。本发明采用了快速细化算和OPTA算法组成的综合方法，使得采用本发明的方法显著提高细化算法的运行效率，克服了以前细化后的指纹图像有较多的毛刺，分叉点细化不够完全的问题，既没有破坏纹线的连接性又保护了指纹的细节特征，运算速度也较快，处理后的指纹图像细化完全，骨架接近纹线中心线。
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公开(公告)号：CN101350066A
公开(公告)日：2009-01-21
申请号：CN200810137112.6
申请日：2008-09-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06K9/00
Abstract: 基于四特征点拓扑结构的指纹识别方法，它涉及一种指纹识别方法，以解决基于特征点的指纹识别方法存在的受伪特征点的影响较大、抗噪声能力差、可靠性较差和未考虑空间信息的问题。以两个图像中的一对中心点和三角点对进行校正；分别对数据库图像和校正后待识别图像中的特征点依据距离其所在图像中心点的距离升序排列；给数据库图像和校正后待识别图像中所有的特征点分别构造一个四点模型，并在数据库图像和校正后待识别图像中进行特征点匹配；统计数据库图像和校正后待识别图像中匹配特征点的对数，判断两个图像是否来自同一枚指纹。本发明减小了匹配算法对中心点定位的依赖性，提高了算法的可靠性和抗噪声能力，考虑了特征点的空间信息。
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