公开(公告)号：CN103092194B

公开(公告)日：2014-12-03

申请号：CN201310041008.8

申请日：2013-02-01

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 魏长安 ,  盛云龙 ,  杨京礼 ,  姜守达 ,  刘忠林

IPC: G05B23/02

Abstract: 基于USB总线的通用伺服机构性能测试装置及测试方法，属于导弹伺服机构性能测试领域。它解决了目前武器装备的测试系统采用VXI总线模块组成，体积大及成本高的问题。它在一片FPGA内部实现了对两路AD转换芯片、一路DA转换芯片的控制逻辑，并且可通过外部触发或软件触发同步AD转换芯片和DA转换芯片工作；它利用两组扫描AD同时对伺服机构的激励信号与响应信号进行采集，既可实现对伺服机构静态性能参数的测试，又可以对动态响应特性进行准确测试；在FPGA内部采用时间间隔FIFO与数据FIFO，实现了对DA波形参数的自动控制。本发明适用于通用伺服机构的性能测试。

公开(公告)号：CN103092194A

公开(公告)日：2013-05-08

申请号：CN201310041008.8

申请日：2013-02-01

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 魏长安 ,  盛云龙 ,  杨京礼 ,  姜守达 ,  刘忠林

IPC: G05B23/02

Abstract: 基于USB总线的通用伺服机构性能测试装置及测试方法，属于导弹伺服机构性能测试领域。它解决了目前武器装备的测试系统采用VXI总线模块组成，体积大及成本高的问题。它在一片FPGA内部实现了对两路AD转换芯片、一路DA转换芯片的控制逻辑，并且可通过外部触发或软件触发同步AD转换芯片和DA转换芯片工作；它利用两组扫描AD同时对伺服机构的激励信号与响应信号进行采集，既可实现对伺服机构静态性能参数的测试，又可以对动态响应特性进行准确测试；在FPGA内部采用时间间隔FIFO与数据FIFO，实现了对DA波形参数的自动控制。本发明适用于通用伺服机构的性能测试。