含永磁双C型轭铁结构
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103295843A

    公开(公告)日:2013-09-11

    申请号:CN201310194814.9

    申请日:2013-05-23

    Abstract: 本发明公开一种含永磁双C型轭铁结构,包括:外轭铁,为空心的圆柱体结构,包括外轭铁上底、外轭铁下底和外轭铁侧壁;永磁体,与所述外轭铁侧壁固定连接以产生磁吸力;内轭铁,位于所述外轭铁内部,与所述永磁体固定连接;所述内轭铁为空心的环形圆柱体结构,包括内轭铁上底、内轭铁下底和内轭铁侧壁;衔铁,位于所述外轭铁内部,从所述内轭铁的中心圆环处贯穿,包括衔铁上底、衔铁下底和衔铁侧壁;所述衔铁相对于所述内轭铁具有上下运动的空间;以及线圈骨架、线圈、连杆和弹簧;其中,所述外轭铁、内轭铁和衔铁均为导磁材料。

    直动式上置永磁T型衔铁结构

    公开(公告)号:CN103311051A

    公开(公告)日:2013-09-18

    申请号:CN201310263219.6

    申请日:2013-06-27

    Abstract: 本发明公开一种直动式上置永磁T型衔铁结构,包括外壳、上轭铁、永磁体、线圈骨架、线圈、下轭铁、衔铁、连杆以及弹簧,其中所述外壳、所述上轭铁、所述下轭铁和所述衔铁均为导磁材料。所述上轭铁为圆环形,设置所述外壳的上端开口处;所述永磁体与所述上轭铁的内圆周紧密连接;所述线圈骨架为圆环型,与所述外壳底面固定连接;所述线圈缠绕在所述线圈骨架上;所述下轭铁为圆环型,位于所述上轭铁以下、所述线圈骨架以上的位置处;所述衔铁包括固定连接的衔铁上底和衔铁柱体,用以在所述上轭铁和所述下轭铁之间垂直上下移动。本发明采用对称结构,安装简单,能够有效提高产品的装配效率,降低废品率。

    含永磁双C型轭铁结构
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103295843B

    公开(公告)日:2016-06-22

    申请号:CN201310194814.9

    申请日:2013-05-23

    Abstract: 本发明公开一种含永磁双C型轭铁结构,包括:外轭铁,为空心的圆柱体结构,包括外轭铁上底、外轭铁下底和外轭铁侧壁;永磁体,与所述外轭铁侧壁固定连接以产生磁吸力;内轭铁,位于所述外轭铁内部,与所述永磁体固定连接;所述内轭铁为空心的环形圆柱体结构,包括内轭铁上底、内轭铁下底和内轭铁侧壁;衔铁,位于所述外轭铁内部,从所述内轭铁的中心圆环处贯穿,包括衔铁上底、衔铁下底和衔铁侧壁;所述衔铁相对于所述内轭铁具有上下运动的空间;以及线圈骨架、线圈、连杆和弹簧;其中,所述外轭铁、内轭铁和衔铁均为导磁材料。

    直动式上置永磁T型衔铁结构

    公开(公告)号:CN103311051B

    公开(公告)日:2015-09-02

    申请号:CN201310263219.6

    申请日:2013-06-27

    Abstract: 本发明公开一种直动式上置永磁T型衔铁结构,包括外壳、上轭铁、永磁体、线圈骨架、线圈、下轭铁、衔铁、连杆以及弹簧,其中所述外壳、所述上轭铁、所述下轭铁和所述衔铁均为导磁材料。所述上轭铁为圆环形,设置所述外壳的上端开口处;所述永磁体与所述上轭铁的内圆周紧密连接;所述线圈骨架为圆环型,与所述外壳底面固定连接;所述线圈缠绕在所述线圈骨架上;所述下轭铁为圆环型,位于所述上轭铁以下、所述线圈骨架以上的位置处;所述衔铁包括固定连接的衔铁上底和衔铁柱体,用以在所述上轭铁和所述下轭铁之间垂直上下移动。本发明采用对称结构,安装简单,能够有效提高产品的装配效率,降低废品率。

    继电器批次产品释放时间一致性控制方法

    公开(公告)号:CN103235507B

    公开(公告)日:2015-05-20

    申请号:CN201310097448.5

    申请日:2013-03-25

    Abstract: 继电器批次产品释放时间一致性控制方法,本发明涉及继电器批次产品释放时间一致性控制方法。本发明是要解决继电器产品研发过程中缺乏一致性控制方法指导研发人员对可控参数分配合理的容差,进而导致制造过程中批次产品一致性差的问题,而提出了继电器批次产品释放时间一致性控制方法。一、正交试验设计;二、试验数据贡献率分析;三、建立容差分配目标函数;四、确定关键参数及其容差;五、继电器制造过程控制。本发明应用于继电器研发阶段的一致性控制领域。

    继电器批次产品释放时间一致性控制方法

    公开(公告)号:CN103235507A

    公开(公告)日:2013-08-07

    申请号:CN201310097448.5

    申请日:2013-03-25

    Abstract: 本发明涉及继电器批次产品释放时间一致性控制方法。本发明是要解决继电器产品研发过程中缺乏一致性控制方法指导研发人员对可控参数分配合理的容差,进而导致制造过程中批次产品一致性差的问题,而提出了继电器批次产品释放时间一致性控制方法。一、正交试验设计;二、试验数据贡献率分析;三、建立容差分配目标函数;四、确定关键参数及其容差;五、继电器制造过程控制。本发明应用于继电器研发阶段的一致性控制领域。

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