基于平面光栅的三维视觉位姿测量装置及其测量方法

    公开(公告)号:CN103712603A

    公开(公告)日:2014-04-09

    申请号:CN201310676383.X

    申请日:2013-12-07

    CPC classification number: G01C11/02 G01C11/04

    Abstract: 本发明涉及一种基于平面光栅的三维视觉位姿测量装置及其测量方法,装置包括图像采集装置、平面光栅标志器、背光光源、图像和数据处理系统和固定标志器平台,图像采集装置与图像和数据处理系统电信号连接,背光光源紧贴于平面光栅标志器下部与其固定连接,背光光源固定于固定标志器平台上,图像采集装置实时采集平面光栅标志器的图像,并将图像传至图像和数据处理系统测量方法包括以下步骤:对采集图像进行预处理;提取标志器的光栅暗条纹及辅助标识特征;使用辅助特征进行位姿粗估计;使用粗、精多组光栅计算精确角度偏移量;将粗、精计算结果进行数据融合,得到最终位姿估计结果。本发明实现了高精度的三维位姿测量,测量自动化程度高。

    基于平面光栅的三维视觉位姿测量装置及其测量方法

    公开(公告)号:CN103712603B

    公开(公告)日:2016-03-23

    申请号:CN201310676383.X

    申请日:2013-12-07

    Abstract: 本发明涉及一种基于平面光栅的三维视觉位姿测量装置及其测量方法,装置包括图像采集装置、平面光栅标志器、背光光源、图像和数据处理系统和固定标志器平台,图像采集装置与图像和数据处理系统电信号连接,背光光源紧贴于平面光栅标志器下部与其固定连接,背光光源固定于固定标志器平台上,图像采集装置实时采集平面光栅标志器的图像,并将图像传至图像和数据处理系统测量方法包括以下步骤:对采集图像进行预处理;提取标志器的光栅暗条纹及辅助标识特征;使用辅助特征进行位姿粗估计;使用粗、精多组光栅计算精确角度偏移量;将粗、精计算结果进行数据融合,得到最终位姿估计结果。本发明实现了高精度的三维位姿测量,测量自动化程度高。

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