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公开(公告)号：CN105760614B
公开(公告)日：2019-01-25
申请号：CN201610118223.7
申请日：2016-03-02
Applicant: 同济大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及一种圆锥‑双曲嵌套式X射线天文望远镜结构的设计方法，该设计方法包括以下几个步骤：(1)通过Matlab软件计算Wolter‑I型天文望远镜每一组主镜和副镜的镜片位置，该结果即为所述圆锥‑双曲嵌套式X射线天文望远镜中每一组主镜和副镜的镜片位置；(2)将步骤(1)所得主镜和副镜的镜片位置代入Zemax软件，模拟得到成像光斑；(3)根据所述圆锥‑双曲嵌套式X射线天文望远镜的基础参数计算光斑尺寸，将该光斑尺寸与步骤(2)所得成像光斑进行对比，分析可行性。与现有技术相比，本发明对比经典的Wolter‑I型嵌套结构望远镜，将主镜设计成圆锥面，显著降低了制作难度和加工成本，在保证分辨率的同时，有效的提高了集光面积。
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公开(公告)号：CN103983204A
公开(公告)日：2014-08-13
申请号：CN201410050122.1
申请日：2014-02-13
Applicant: 同济大学
Abstract: 本发明涉及一种利用白噪声功率谱密度(PSD)校准光学表面轮廓仪有效空间分辨率的方法。白噪声会限制光学表面轮廓仪的空间分辨率，它是一种功率频谱密度为常数的随机信号或随机过程，利用这一规律，将测试结果中符合白噪声功率谱密度(PSD)曲线化规律的部分截断，剩余部分对应有效的空间频率范围。本发明原理简单、操作便捷，不需要借助其他设备，在检测光滑样品的同时就可以完成校准工作，显著降低了光学表面轮廓仪校准的难度和成本，确定了光学表面轮廓仪的有效空间分辨率。
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公开(公告)号：CN103954230A
公开(公告)日：2014-07-30
申请号：CN201410050115.1
申请日：2014-02-13
Applicant: 同济大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明涉及一种校准光学表面轮廓仪实际有效空间分辨率的方法。分形表面的功率谱密度曲线在对数坐标下是斜率为-n的直线。利用这一规律，采用原子力显微镜对符合分形表面的样品在不同范围内(10μm×10μm、5μm×5μm、2μm×2μm和1μm×1μm)进行测试，并将得到的功率谱密度(PSD)曲线的拟合直线作为标准对光学表面轮廓仪进行校准，实现确定表面轮廓仪实际有效空间分辨率的目的。本发明原理简单、操作便捷，在检测超光滑样品的同时就可以完成校准工作，显著降低了光学表面轮廓仪校准的难度和成本，确定了光学表面轮廓仪实际有效空间分辨率，定量的给出了实际空间分辨率范围内的表面粗糙度。
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公开(公告)号：CN113741137A
公开(公告)日：2021-12-03
申请号：CN202110640682.2
申请日：2021-06-09
Applicant: 同济大学
IPC: G03B42/02
Abstract: 本发明涉及一种具有高分辨率和高单色性的X射线成像光学系统，包括多通道KB成像物镜和探测器，所述多通道KB成像物镜的输出侧与探测器之间放置有N块平面晶体，其中，N≥1，所述平面晶体的数量与单色能点的数量相同，所述多通道KB成像物镜的各通道反射光束之间具有平行出射的光路特性。与现有技术相比，本发明能够解决现有多通道KB结构配合平面晶体元件过程中存在的问题，同时实现高空间分辨和高单色性的目的，本发明提出的多能点X射线成像系统，基于各成像通道相互平行出射的光路排布，易于实现成像物镜与平面晶体匹配时的角度姿态控制，降低角度偏差造成的实际诊断能点相对设计能点的漂移，进而有效提高诊断结果的可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113741137B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202110640682.2
申请日：2021-06-09
Applicant: 同济大学
IPC: G03B42/02
Abstract: 本发明涉及一种具有高分辨率和高单色性的X射线成像光学系统，包括多通道KB成像物镜和探测器，所述多通道KB成像物镜的输出侧与探测器之间放置有N块平面晶体，其中，N≥1，所述平面晶体的数量与单色能点的数量相同，所述多通道KB成像物镜的各通道反射光束之间具有平行出射的光路特性。与现有技术相比，本发明能够解决现有多通道KB结构配合平面晶体元件过程中存在的问题，同时实现高空间分辨和高单色性的目的，本发明提出的多能点X射线成像系统，基于各成像通道相互平行出射的光路排布，易于实现成像物镜与平面晶体匹配时的角度姿态控制，降低角度偏差造成的实际诊断能点相对设计能点的漂移，进而有效提高诊断结果的可靠性。
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公开(公告)号：CN105760614A
公开(公告)日：2016-07-13
申请号：CN201610118223.7
申请日：2016-03-02
Applicant: 同济大学
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5004
Abstract: 本发明涉及一种圆锥?双曲嵌套式X射线天文望远镜结构的设计方法，该设计方法包括以下几个步骤：(1)通过Matlab软件计算Wolter?I型天文望远镜每一组主镜和副镜的镜片位置，该结果即为所述圆锥?双曲嵌套式X射线天文望远镜中每一组主镜和副镜的镜片位置；(2)将步骤(1)所得主镜和副镜的镜片位置代入Zemax软件，模拟得到成像光斑；(3)根据所述圆锥?双曲嵌套式X射线天文望远镜的基础参数计算光斑尺寸，将该光斑尺寸与步骤(2)所得成像光斑进行对比，分析可行性。与现有技术相比，本发明对比经典的Wolter?I型嵌套结构望远镜，将主镜设计成圆锥面，显著降低了制作难度和加工成本，在保证分辨率的同时，有效的提高了集光面积。
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公开(公告)号：CN104729431A
公开(公告)日：2015-06-24
申请号：CN201510088108.5
申请日：2015-02-26
Applicant: 同济大学
IPC: G01B11/255
Abstract: 本发明涉及一种小曲率小口径球面光学元件表面曲率半径测量方法，该方法利用光学轮廓仪进行测量，包括以下步骤：A、使用标准平面镜样品对光学表面轮廓仪内参考镜的表面误差进行校准；B、利用牛顿环原理对干涉图中心位置进行修正，使得测试区域中心和干涉图中心重合；C、利用光程差为零时剩余表面误差最小的原则确定零级干涉条纹所在位置；D、根据校正后的光学轮廓仪测量得到的表面轮廓信息计算球面光学元件表面曲率半径。与现有技术相比，本发明具有费用低、零损伤、易操作等优点，提高了小曲率小口径球面光学元件表面曲率半径的测量精度。
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公开(公告)号：CN103983204B
公开(公告)日：2015-08-26
申请号：CN201410050122.1
申请日：2014-02-13
Applicant: 同济大学
Abstract: 本发明涉及一种利用白噪声功率谱密度(PSD)校准光学表面轮廓仪有效空间分辨率的方法。白噪声会限制光学表面轮廓仪的空间分辨率，它是一种功率频谱密度为常数的随机信号或随机过程，利用这一规律，将测试结果中符合白噪声功率谱密度(PSD)曲线化规律的部分截断，剩余部分对应有效的空间频率范围。本发明原理简单、操作便捷，不需要借助其他设备，在检测光滑样品的同时就可以完成校准工作，显著降低了光学表面轮廓仪校准的难度和成本，确定了光学表面轮廓仪的有效空间分辨率。
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公开(公告)号：CN103954230B
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201410050115.1
申请日：2014-02-13
Applicant: 同济大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明涉及一种校准光学表面轮廓仪实际有效空间分辨率的方法。分形表面的功率谱密度曲线在对数坐标下是斜率为-n的直线。利用这一规律，采用原子力显微镜对符合分形表面的样品在不同范围内(10μm×10μm、5μm×5μm、2μm×2μm和1μm×1μm)进行测试，并将得到的功率谱密度(PSD)曲线的拟合直线作为标准对光学表面轮廓仪进行校准，实现确定表面轮廓仪实际有效空间分辨率的目的。本发明原理简单、操作便捷，在检测超光滑样品的同时就可以完成校准工作，显著降低了光学表面轮廓仪校准的难度和成本，确定了光学表面轮廓仪实际有效空间分辨率，定量的给出了实际空间分辨率范围内的表面粗糙度。
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