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公开(公告)号：CN106370666A
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201510437460.5
申请日：2015-07-23
Applicant: 台达电子工业股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种电子元件外观检测装置及其检测方法。电子元件外观检测装置包括输送机构、传感器、多个取像模块及控制器。输送机构输送电子元件，传感器于检测电子元件通过时发出触发信号，控制器于收到触发信号时取得输送电子元件至多个取像位置所需的多个时间区间，并分别于计时多个时间区间经过时驱动对应的取像模块撷取电子元件的元件影像，并且对元件影像进行瑕疵检测处理以产生检测结果。
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公开(公告)号：CN106568778A
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201510645115.0
申请日：2015-10-08
Applicant: 台达电子工业股份有限公司
IPC: G01N21/88
CPC classification number: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种电子元件外观影像检测方法，电子元件外观影像检测方法包括以下步骤：取得电子元件的外观影像；于判断外观影像可使用时，识别感兴趣区域；对感兴趣区域执行检测处理；及产生检测结果。本发明经由预先判断所取得影像是否可使用及对识别感兴趣区域执行检测处理，可有效提升检测准确性及检测速度。
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公开(公告)号：CN205110148U
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201520751646.3
申请日：2015-09-25
Applicant: 台达电子工业股份有限公司
Abstract: 一种分料模块，设置在一外观检测装置的基座，外观检测装置包含用以检测电子元件的检测模块，其包含输送机构、至少三组取料机构及控制器。输送机构用以输送电子元件。取料机构沿电子元件的输送方向排列分别用以取下输送机构上不良、合格以及其他的电子元件。控制器分别电性连接各取料机构以依据检测模块的检测结果驱动各取料机构取下输送机构上对应的电子元件。其中沿输送机构的输送方向上，用以取下不良的电子元件的取料机构排列于最先，接续排列用以取下合格的电子元件的取料机构，用以取下其他的电子元件的取料机构排列于最后。因此能够避免因取料机构老化而将非对应的电子元件取下以确保检测的准确率。
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公开(公告)号：CN204789382U
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201520539227.3
申请日：2015-07-23
Applicant: 台达电子工业股份有限公司
Abstract: 本实用新型公开了一种电子元件外观检测装置，其包含基座、输送机构、供料机构、传感器、多个取像模块及控制器。输送机构包含旋转盘、马达以及角度编码器，旋转盘呈水平配置，马达设置于基座且连接旋转盘而能够驱动旋转盘水平自转，角度编码器电性连接马达。供料机构包含震动盘以及储料桶，震动盘设置于基座，储料桶具有朝向震动盘内配置的供料道，震动盘延伸出下料轨道且下料轨道的末端延伸至旋转盘的上方。传感器对应旋转盘配置且与下料轨道的末端相邻。取像模块设置于基座上，各取像模块分别邻近环绕旋转盘配置。控制器电性连接编码器、传感器以及各取像模块。藉由角度编码器而能够对旋转盘的旋转方向上精确定位，确保检测的准确率。
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