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公开(公告)号：CN119757232A
公开(公告)日：2025-04-04
申请号：CN202411813710.6
申请日：2024-12-11
Applicant: 厦门理工学院
Abstract: 本发明涉及一种电触头表面膜损伤的原位分析检测方法和装置，包括如下步骤：1)调整样品测试平台高度及角度到合适位置；2)接通电接触测试平台电路，模拟电触头原位工作过程，得到电接触信息以及椭圆偏振光检测信息；3)将偏振光检测信息传递到光源采集设备，4)建立合适的物理光学模型和振子模型，进行数据拟合分析，得到电触头表面原位变化情况。本发明通过采用非接触式原位光谱测试技术，准确、快速、无损地实时检测电触头前期原位失效过程，为电触头材料电接触前期失效机理的研究提供了设备手段和试验依据。
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