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公开(公告)号：CN114675115A
公开(公告)日：2022-06-28
申请号：CN202210397347.9
申请日：2022-04-15
Applicant: 厦门市计量检定测试院 , 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本发明公开一种自动化静电放电测试系统，包括六轴机械臂、静电放电发生器、压力传感器和旋转平台；所述静电放电发生器设置于所述六轴机械臂的末端；所述压力传感器设置于所述六轴机械臂与所述静电放电发生器的连接处，以检测静电放电发生器对待测产品施加的压力。本发明可提高测试效率，保证测试质量，且可避免待测产品与静电放电发生器接触时碎裂。
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公开(公告)号：CN217639320U
公开(公告)日：2022-10-21
申请号：CN202220880332.3
申请日：2022-04-15
Applicant: 厦门市计量检定测试院 , 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本实用新型公开一种自动化静电放电测试系统，包括六轴机械臂、静电放电发生器、压力传感器和旋转平台；所述静电放电发生器设置于所述六轴机械臂的末端；所述压力传感器设置于所述六轴机械臂与所述静电放电发生器的连接处，以检测静电放电发生器对待测产品施加的压力。本实用新型可提高测试效率，保证测试质量，且可避免待测产品与静电放电发生器接触时碎裂。
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公开(公告)号：CN115254680A
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202210905677.4
申请日：2022-07-29
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
IPC: B07C5/342
Abstract: 本发明公开了一种显示屏的异物自动检测设备，包括机座和设置在所述机座上的输送机构、抓取机构、送检机构、驱动机构及检测机构；所述输送机构用于输送待测显示屏，所述抓取机构用于将所述输送结构上的待测显示屏抓取至所述送检机构和转移所述送检机构上的已测显示屏，所述送检机构用于沿水平纵向输送显示屏至检测位置，所述驱动机构用于带动所述检测机构对显示屏沿水平纵向进行移动，所述检测机构包括安装板、升降模组、升降架、检测组件、测距组件及定位组件，所述检测组件设置在所述升降架上用于对显示屏进行异物检测。
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公开(公告)号：CN114939539B
公开(公告)日：2024-03-05
申请号：CN202210605392.9
申请日：2022-05-30
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 测良品晶圆。本发明公开了一种晶圆表面缺陷智能检测设备，包括机座和设置于所述机座上的料盘输送机构、晶圆移送机构、送检机构、检测机构、分转机构、装箱机构、料箱输送机构及隔板移送机构；所述料盘输送机构用于输送料盘；所述晶圆移送机构用于从料盘上抓取待测晶圆放置于所述送检机构和从送检机构上抓取已测晶圆放置于所述分转机构；所述送检机构用于承载晶圆沿水平纵向移动；所述检测机构用于对所述送检机构上承载的晶圆进行检测；所述料箱输送机构用于输送料箱；所述装箱机构用于从所述良品晶圆移送
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公开(公告)号：CN108946050B
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN201810891295.4
申请日：2018-08-03
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
IPC: B65G43/08 , B65G47/91 , B65G47/248 , B65G47/22
Abstract: 本发明公开了一种AOI自动下料装置，依次包括送料装置、面板翻转机构、面板定位机构、料盘提升机构、料盘移载机构、面板移载机构、插片机构以及卡闸收料机构。其中，面板由前机机械手放置在面板翻转机构上，由面板翻转机构进行翻转后落到面板定位机构中定位，以便后续机械手移载到料盘提升机构中的料盘中及插片机构上。机械手将不合格面板放置在料盘提升机构中的料盘中，当料盘装满时，料盘移载机构将料盘移载至另一工位，面板移载机构将合格面板移载至插片机构上，插片机构将其纳入卡闸。本发明对下料装置中的各个组成机构进行了改进，从而使得面板被准确移载，降低面板在移载过程中的损耗。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115180388A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210905696.7
申请日：2022-07-29
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本发明公开了一种大尺寸显示模组线路自动检测设备，包括机座和设置在所述机座上的送检机构、驱动机构及检测机构，所述送检机构用于输送显示模组，所述驱动机构用于带动所述检测机构在显示模组上方沿边沿线路进行移动，所述检测机构包括安装板，升降模组、升降架、检测组件、测距组件及定位组件，所述安装板设置在所述驱动机构上，所述升降模组固设在安装板上用于驱动所述升降架沿竖直方向升降，所述检测组件设置在所述升降架上用于对显示模组进行线路缺陷检测，所述测距组件用于测量显示模组到所述检测组件的对焦距离，所述定位组件用于获取显示模组上的边沿线路的位置信息。
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公开(公告)号：CN114939539A
公开(公告)日：2022-08-26
申请号：CN202210605392.9
申请日：2022-05-30
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本发明公开了一种晶圆表面缺陷智能检测设备，包括机座和设置于所述机座上的料盘输送机构、晶圆移送机构、送检机构、检测机构、分转机构、装箱机构、料箱输送机构及隔板移送机构；所述料盘输送机构用于输送料盘；所述晶圆移送机构用于从料盘上抓取待测晶圆放置于所述送检机构和从送检机构上抓取已测晶圆放置于所述分转机构；所述送检机构用于承载晶圆沿水平纵向移动；所述检测机构用于对所述送检机构上承载的晶圆进行检测；所述料箱输送机构用于输送料箱；所述装箱机构用于从所述良品晶圆移送组件上抓取已测良品晶圆放置到料箱内；所述隔板移送机构用于抓取隔板放置到料箱中分隔已测良品晶圆。
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公开(公告)号：CN117687234A
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN202311594518.8
申请日：2023-11-24
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本发明公开了一种液晶屏导电粒子个数及偏位自动检测方法，包括以下步骤：S1：利用光学系统对待检测区域进行成像，获取待检测导电粒子图像；S2；对待检测导电粒子图像进行图像增强处理，提高图像的对比度，突出导电粒子；S3：对经过图像增强处理的导电粒子图像进行分割，获取bump区域集合；S4：对获取的bump区域集合计算导电粒子个数；S5：将计算得到的导电粒子映射至对应的空白bump投影区域内，计算导电粒子的偏位情况。相应的，本发明还提出了一种液晶屏导电粒子个数及偏位自动检测装置。本发明解决了目前液晶屏导电粒子计数精度低及对导电粒子的偏位情况检测精度低的问题。
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公开(公告)号：CN114985288A
公开(公告)日：2022-09-02
申请号：CN202210605396.7
申请日：2022-05-30
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
IPC: B07C5/02 , B07C5/34 , B07C5/36 , H01L21/67 , H01L21/677
Abstract: 本发明公开了一种晶圆表面缺陷检测的智能出料设备，包括机座和设置在机座上的晶圆抓取机构、良品移送机构、次品移送机构、料箱输送机构、装箱机构、隔板移送机构及贴标机构；所述晶圆抓取机构用于从检测设备上抓取已测晶圆放置于所述良品移送机构或次品移送机构；所述良品移送机构用于输送已测良品晶圆；所述次品移送机构用于输送已测次品晶圆；所述料箱输送机构用于输送料箱；所述装箱机构用于从所述良品移送机构上抓取已测良品晶圆放置到料箱内；所述隔板移送机构用于抓取隔板放置到料箱中分隔已测良品晶圆；所述贴标机构用于在料箱上贴附标签。
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公开(公告)号：CN108946050A
公开(公告)日：2018-12-07
申请号：CN201810891295.4
申请日：2018-08-03
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
IPC: B65G43/08 , B65G47/91 , B65G47/248 , B65G47/22
CPC classification number: B65G43/08 , B65G47/22 , B65G47/248 , B65G47/912 , B65G2201/0258 , B65G2203/044
Abstract: 本发明公开了一种AOI自动下料装置，依次包括送料装置、面板翻转机构、面板定位机构、料盘提升机构、料盘移载机构、面板移载机构、插片机构以及卡闸收料机构。其中，面板由前机机械手放置在面板翻转机构上，由面板翻转机构进行翻转后落到面板定位机构中定位，以便后续机械手移载到料盘提升机构中的料盘中及插片机构上。机械手将不合格面板放置在料盘提升机构中的料盘中，当料盘装满时，料盘移载机构将料盘移载至另一工位，面板移载机构将合格面板移载至插片机构上，插片机构将其纳入卡闸。本发明对下料装置中的各个组成机构进行了改进，从而使得面板被准确移载，降低面板在移载过程中的损耗。
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