公开(公告)号：CN118937944A

公开(公告)日：2024-11-12

申请号：CN202411158132.7

申请日：2024-08-22

Applicant: 厦门大学

Inventor： 吕毅军 ,  田翊辰 ,  张仁主 ,  傅诺毅 ,  史园 ,  朱丽虹 ,  陈国龙 ,  郭伟杰 ,  陈忠

IPC: G01R31/26 ,  G01M11/02 ,  G01N21/64

Abstract: 本发明公开了一种微型LED芯片多路非接触光电特性检测装置及方法。装置包括：激光输入模块，用于向显微镜输入多束激光；显微镜，用于将多束激光进行聚焦，并同步照射至晶圆上当前区域对应的多组待测芯片；承载模块，设置于所述显微镜上，用于将晶圆承载于显微镜的物镜成像平面上，并可移动晶圆的位置，以使得激光照射在晶圆不同区域的多组待测芯片；数据采集模块，通过导电薄膜与晶圆上的待测芯片连接，用于对导电薄膜中各薄膜阵列对应的待测芯片的光电流信号进行数据采集；光谱信息分析模块，用于对待测芯片的荧光信号进行采集，输出光谱分析数据。本方案能实现多路微型LED芯片光电信号同步激发、检测，实现对批量LED芯片非接触式光电特性检测。

公开(公告)号：CN119688065A

公开(公告)日：2025-03-25

申请号：CN202411759561.X

申请日：2024-12-03

Applicant: 厦门大学

Inventor： 吕毅军 ,  蔡雅琪 ,  赵国堡 ,  傅诺毅 ,  史园 ,  朱丽虹 ,  陈国龙 ,  陈忠

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02 ,  G06F18/2411 ,  G06F18/214 ,  G06F18/15 ,  G06N3/0499

Abstract: 本申请提供一种LED阵列光谱数据批量采集系统及方法，该系统包括电流源、激光源、显微镜、AOTF高光谱成像仪、相机以及用于批量采集的处理器；所述显微镜包含若干个物镜以及机械载物台；所述处理器用于执行：调整AOTF高光谱成像仪的驱动频率，进行不同波长下的图像采集，并输出LED阵列完整光谱；所述处理器包括模型训练模块和批量采集模块，所述模型训练模块用于构建SVM模型，所述批量采集模块用于采集部分波长下的LED阵列光谱，并将该LED阵列光谱输入SVM模型得到LED阵列完整光谱。本申请批量采集LED芯片的少量波长的单色光谱数据，输入SVM模型，即可映射出高精度LED阵列全光谱数据，具有很好的实用性。

公开(公告)号：CN117848683A

公开(公告)日：2024-04-09

申请号：CN202410054501.1

申请日：2024-01-15

Applicant: 厦门大学

Inventor： 朱丽虹 ,  耿全全 ,  史园 ,  庄鹏 ,  陈国龙 ,  吴挺竹 ,  陈忠 ,  吕毅军

IPC: G01M11/02

Abstract: 一种微型发光器件阵列老化测试系统及方法，涉及发光器件检测。包括老化装置和测试装置；微型发光器件阵列电极插入样品夹具插座与样品夹具表面紧密相连，从焊尾式插座引出线与老化恒流源相连，每个温控载物台依面积大小放若干样品夹具，采集待测样品高光谱图像数据；在当前温度应力下开始老化实验，经过一定的老化时间对每个微型发光器件阵列进行在线测试，至设定的时间结束，停止该应力下试验；调整温度应力，重复前述老化步骤；采集老化高光谱图像数据；将微型芯片分组取平均光谱；老化过程对不同老化阶段测得的每组芯片平均光谱数据拟合，计算各组芯片指定结温下寿命以及微型阵列中所有芯片平均寿命。保证样品一致性，减少统计偏差。