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公开(公告)号:CN101946212A
公开(公告)日:2011-01-12
申请号:CN200880127355.X
申请日:2008-12-18
申请人: 卡尔蔡司SMT股份公司
IPC分类号: G03F7/20
CPC分类号: G03F7/702 , G02B5/09 , G02B26/105 , G03F7/70116 , G03F7/7055 , G03F7/70583
摘要: 一种微光刻投射曝光设备,包括用来照明物平面中的物场的数个物场点的照明光学部件。就该物场的每一物场点而言,该照明光学部件具有与该物点相关的出射光瞳,其中sin(γ)为该出射光瞳的最大边缘角值(angle value),且其中该照明光学部件包括多镜阵列(38),其包括用来调整与该这些物场点相关的出射光瞳中强度分布的多个镜(38s)。该照明光学部件进一步包含至少一光学系统(33a;33b;33c;3d;400;822;903;1010;1103;1203)以用来时间上稳定该多镜阵列(38)的照明,使得对于每一物场点,相关出射光瞳中的强度分布偏离了相关出射光瞳中的期望强度分布,在形心角值sin(β)上就相关出射光瞳的该最大边缘角值sin(γ)而言偏离了小于2%、和/或在椭圆率上偏离了小于2%、和/或在极平衡上偏离了小于2%。
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公开(公告)号:CN101796460A
公开(公告)日:2010-08-04
申请号:CN200780100451.0
申请日:2007-08-30
申请人: 卡尔蔡司SMT股份公司
IPC分类号: G03F7/20
CPC分类号: G03F7/702 , G03F7/70116
摘要: 扫描微光刻投射曝光设备(10)中用于照明掩模(16)的照明系统具有物镜(52;152;252;352;452),该物镜具有物平面(50;150;250;350;450)、至少一个光瞳面(60;160;360;460)和其中能布置掩模(16)的像平面(54;154;354;454)。提供反射或透射的光束偏转元件(Mij;Tij)的光束偏转阵列(40;140;340;440),其中每一光束偏转元件(Mij;Tij)适于将打入光束偏转一偏转角,该偏转角响应于控制信号可变。依照本发明,该光束偏转元件(Mij;Tij)布置在物镜(52;152;252;352;452)的物平面(50;150;250;350;450)中或紧邻所述物平面。
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公开(公告)号:CN101636696A
公开(公告)日:2010-01-27
申请号:CN200880004238.4
申请日:2008-02-06
申请人: 卡尔蔡司SMT股份公司
发明人: 斯蒂芬·泽尔特 , 关彦彬 , 安德拉斯·G·梅杰 , 曼弗雷德·莫尔 , 约翰尼斯·艾森门格 , 达米安·菲奥尔卡 , 简·霍恩 , 马库斯·德冈瑟 , 弗洛里安·巴赫 , 迈克尔·帕特拉 , 约翰尼斯·万格勒 , 迈克尔·莱
CPC分类号: G01M11/005 , G03F7/70291 , G03F7/7085
摘要: 本发明涉及一种微光刻投射曝光设备(10)的照明系统(12),包括光瞳面和由优选地可单独控制、用于光瞳面可变地照明的射束偏转元件(28)组成的基本上平面状的布置。可以根据施加在射束偏转元件(28)上的控制信号,通过每个射束偏转元件(28)使得入射到它上的投射光束(32)产生偏转。测量照明装置(54、56、58、60;88;90;98)将与投射光束(32)无关的测量光束(36)被引导到射束偏转元件(28)上。检测装置检测在射束偏转元件(28)上偏转后的测量光束(38)。评估单元根据检测装置提供的测试信号确定投射光束(32)的偏转。
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