公开(公告)号：CN104897051B

公开(公告)日：2019-01-11

申请号：CN201410074532.X

申请日：2014-03-03

Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司

Inventor： 李仲禹 ,  王明思 ,  顾海磊

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明涉及用于对数码显微镜进行测量校准的校准板及其使用方法。所述校准板包括至少一个形成有表面构造的校准区，所述表面构造包括周期性地排布的多个格子单元，其中，每个格子单元的边界的至少一部分和/或顶点的至少一部分能够由所述数码显微镜的光学成像系统识别出。本发明还涉及包括所述校准板的数码显微镜系统。

公开(公告)号：CN104897051A

公开(公告)日：2015-09-09

申请号：CN201410074532.X

申请日：2014-03-03

Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司

Inventor： 李仲禹 ,  王明思 ,  顾海磊

IPC: G01B11/00

CPC classification number: G02B21/36

Abstract: 本发明涉及用于对数码显微镜进行测量校准的校准板及其使用方法。所述校准板包括至少一个形成有表面构造的校准区，所述表面构造包括周期性地排布的多个格子单元，其中，每个格子单元的边界的至少一部分和/或顶点的至少一部分能够由所述数码显微镜的光学成像系统识别出。本发明还涉及包括所述校准板的数码显微镜系统。