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公开(公告)号:CN117111420A
公开(公告)日:2023-11-24
申请号:CN202311099718.6
申请日:2023-08-30
Applicant: 南昌大学 , 南昌硅基半导体科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种用于制备金属凸点的双层正性光刻胶剥离方法:S1,外延片清洗;S2,在外延片上旋涂底层的第一类型正性光刻胶;S3,软烘,对第一类型正性光刻胶进行固化;S4,在第一类型正性光刻胶表面旋涂顶层的第二类型正性光刻胶;S5,软烘,对第二类型正性光刻胶进行固化;S6,曝光,使用光刻机对双层光刻胶进行曝光;S7,后烘焙;S8,显影,使用碱性显影液对双层光刻胶进行显影;S9,金属沉积,使用金属沉积设备沉积金属膜;S10,使用光刻胶剥离液对双层光刻胶进行剥离;S11,在外延片表面制备得到金属凸点。本发明通过双层正性光刻胶实现Lift‑off工艺,解决了Micro‑LED微显示器件中小尺寸金属凸点难以制备的问题,可实现间距小且厚度高的金属凸点制备。