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公开(公告)号：CN104777134A
公开(公告)日：2015-07-15
申请号：CN201510197673.5
申请日：2015-04-24
Applicant: 南开大学
Abstract: 一种用于宝石表面折射率测量的宝石显微镜，包括观察镜头1、调节固定座2、底部光源3、侧向光源4、分光镜5、外壳6、测量光源7、汇聚镜头8、棱镜9、宝石夹10、遮光罩及光阑11、探测器12，其中观察镜头采用普通宝石显微镜的全部观察镜头，包括物镜和目镜，本发明折射率测量放置在封闭的外壳中，减小观测过程中环境光对折射率测量的干扰，可以对宝石进行透射观测或反射观测，能够对观测点进行实时折射率测量，载物平台和棱镜的设计避免了观察过程中棱镜和宝石之间摩擦对棱镜或样品造成的损坏，观测光路和折射率测量光路的正交设计和遮光罩及光阑的使用避免了观测光源对折射率测量的干扰。
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公开(公告)号：CN111487162A
公开(公告)日：2020-08-04
申请号：CN202010405882.5
申请日：2020-05-14
Applicant: 南开大学
Abstract: 本发明涉及利用毛细管法测量液体粘滞系数的装置，包括保温外罩体、测量系统和温控系统；测量系统包括第一液槽、第二液槽、液泵，第一液槽侧壁上设有第一感应开关，第一液槽的底部贯通连接第一输液管，第一输液管上设有第一电磁阀，第一输液管末端固定连接水平放置的毛细管，毛细管末端下方设有竖直放置的量筒，量筒侧壁上设有第二感应开关及第三感应开关，量筒内液体可进入第二液槽内，液泵通过管路分别与第一液槽、第二液槽连接；第二感应开关、第三感应开关、温度传感器与单片机电连接，单片机与第一制热模块、第二制热模块、第一制冷模块、第二制冷模块电连接。本发明可测量不同温度下液体的粘滞系数，且测量误差小。
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公开(公告)号：CN104568838A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201310524601.8
申请日：2013-10-28
Applicant: 南开大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种能够测量宽光谱范围物质色散的装置。本发明是利用计算机控制步进电机转动丝杠，带动一端固定在丝杠上的牵引臂，使其牵引与牵引臂的另一端相连的入射臂，从而改变入射臂上的细准直宽带平行入射光在柱棱镜——样品面的入射角，另一个牵引臂牵引与其相连的出射臂，使出射臂上的光谱仪的光纤探头实时测量当前入射角下由样品——柱棱镜面的反射光谱强度，再根据导数全内反射法确定全反射临界角，计算并得到每个波长下样品的折射率，组成色散曲线。优点在于测量只需要进行单次一系列角度下的光谱测量，就能够计算得到宽光谱范围待测物质的色散，具有结构简单，精度高，并且自动化的特点。本发明提供的装置方法具有很强的实用性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102590142B
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：CN201210062142.1
申请日：2012-03-12
Applicant: 南开大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 一种物质折射率分布的测定方法，基于全内反射原理，使用柱面镜将光线会聚，使光线聚焦在折射率已知的棱镜和待测物质的接触面的一条水平直线上，使用面阵电荷耦合器件测量反射光强分布，利用计算机进行控制、采集、存储、处理数据，进而得到物质在会聚光聚焦处一条线上的折射率。棱镜和样品放置在高度可调的升降台上，通过调节升降台高度，改变会聚光聚焦在样品上的位置，进而可以得到物质的折射率分布。本发明适用于研究复杂样品的折射率分布性质。
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公开(公告)号：CN110926518A
公开(公告)日：2020-03-27
申请号：CN201911224441.9
申请日：2019-12-04
Applicant: 南开大学
IPC: G01D18/00
Abstract: 本发明公开了属于光纤传感技术领域的一种波长反馈式光纤光栅标准装置。本发明通过将同样材质性能的两段光纤光栅置于同样的环境中，监测其中一根的中心波长，并利用反馈调节的方式使其中心波长保持稳定，另外一根光纤光栅的波长就会同时保持稳定。利用第二根光纤光栅对光纤光栅传感解调仪进行校准时，就可以保持波长的长期稳定性，避免材质老化等原因造成的波长漂移现象。适用于对采用各种解调方法的光纤光栅传感解调仪进行校准，具有很好的兼容性。
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公开(公告)号：CN110279397A
公开(公告)日：2019-09-27
申请号：CN201910461195.2
申请日：2019-05-30
Applicant: 南开大学
IPC: A61B5/00
Abstract: 本发明公开一种内窥式OCT图像空间分辨性能的检测模体、制作工艺及计量方法，本发明设计并制作了内窥式OCT图像空间分辨性能检测模体，且利用内窥式OCT系统对检测模体进行扫描得到的三维图像，得到检测模体中散射微球的空间分布及其亮度分布。通过对散射微球的横向亮度分布和轴向亮度分布进行高斯拟合得到散射微球的PSF，然后对符合条件的PSF进行高斯拟合得到内窥式OCT系统的空间分辨率。本发明能够对全面精确测量内窥式OCT系统的空间分辨率，以及方便计算出用于客观评价图像质量的PSF；还具有结构小巧的特点。
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公开(公告)号：CN104568863A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201310524507.2
申请日：2013-10-28
Applicant: 南开大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明公开了一种能够检测磁颗粒聚集荧光的装置。本发明是利用小磁柱聚集荧光标记的磁颗粒，形成小磁柱圆面积大小且几乎无堆叠的磁颗粒面，利用长工作距离物镜收集由激光激发磁颗粒面发出的荧光，通过光电检测模块测量荧光强度，用计算机记录并处理数据。小磁柱将磁颗粒束缚在较大的区域面积内，由于磁颗粒本身不足以覆盖这个面积，所以减少了磁颗粒的堆叠。而且长工作距离物镜具有较大的收集面积，可以收集到全部磁珠束缚面积的荧光，并保证了倾斜激发光能够照射到样品面。总之，磁颗粒荧光聚集检测装置，既能够利用磁颗粒荧光聚集带来的荧光增强效果，又减少了磁颗粒堆叠带来的损失，又能将较大面积的荧光全部收集，提高了荧光的收集效率。
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公开(公告)号：CN102590142A
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN201210062142.1
申请日：2012-03-12
Applicant: 南开大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 一种物质折射率分布的测定方法，基于全内反射原理，使用柱面镜将光线会聚，使光线聚焦在折射率已知的棱镜和待测物质的接触面的一条水平直线上，使用面阵电荷耦合器件测量反射光强分布，利用计算机进行控制、采集、存储、处理数据，进而得到物质在会聚光聚焦处一条线上的折射率。棱镜和样品放置在高度可调的升降台上，通过调节升降台高度，改变会聚光聚焦在样品上的位置，进而可以得到物质的折射率分布。本发明适用于研究复杂样品的折射率分布性质。
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