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公开(公告)号：CN101078498A
公开(公告)日：2007-11-28
申请号：CN200710057724.X
申请日：2007-06-22
Applicant: 南开大学
Abstract: 本发明涉及点光源制作技术领域，特别是一种可以获得极为细小点光源的牛角形光导管装置。它包括一个圆锥形导光管，导光管前端为平直圆锥体，中部逐渐弯曲，呈牛角形，末端为导光出口，导光管外壁涂有良好反光材料。可以应用于材料测试和生物学中进行荧光激发，高强度照射等需要高强度细小点光源的领域，也可应用于光束耦合等领域。本发明的优点在于获得的点光源尺寸小，亮度高，均匀性好。
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公开(公告)号：CN1405548A
公开(公告)日：2003-03-26
申请号：CN02148631.X
申请日：2002-11-14
Applicant: 南开大学
Abstract: 一种近场扫描光学显微镜定位扫描成像方法，属于扫描探针显微镜技术领域。借助传统光学显微装置，并使用微米尺度发光点作为定位参考点，通过微调平台在显微成像装置下观测并精确测量参考发光点中心和样品目标区域的相对位移，调节光学探针到参考发光点中心处，进一步根据参考发光点中心和样品目标区域的相对位移，调节光学探针到样品目标区域实施扫描成像。用于近场扫描光学显微镜光学探针在样品表面定位，可通过显微镜大范围搜索关心的目标区域，再调整探针到目标区域扫描成像，实现NSOM定位扫描成像，定位精度可达到1μm，且结构简单。
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公开(公告)号：CN104777134A
公开(公告)日：2015-07-15
申请号：CN201510197673.5
申请日：2015-04-24
Applicant: 南开大学
Abstract: 一种用于宝石表面折射率测量的宝石显微镜，包括观察镜头1、调节固定座2、底部光源3、侧向光源4、分光镜5、外壳6、测量光源7、汇聚镜头8、棱镜9、宝石夹10、遮光罩及光阑11、探测器12，其中观察镜头采用普通宝石显微镜的全部观察镜头，包括物镜和目镜，本发明折射率测量放置在封闭的外壳中，减小观测过程中环境光对折射率测量的干扰，可以对宝石进行透射观测或反射观测，能够对观测点进行实时折射率测量，载物平台和棱镜的设计避免了观察过程中棱镜和宝石之间摩擦对棱镜或样品造成的损坏，观测光路和折射率测量光路的正交设计和遮光罩及光阑的使用避免了观测光源对折射率测量的干扰。
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公开(公告)号：CN100420934C
公开(公告)日：2008-09-24
申请号：CN02148631.X
申请日：2002-11-14
Applicant: 南开大学
Abstract: 一种近场扫描光学显微镜定位扫描成像方法。借助传统光学显微装置，并使用微米尺度发光点作为定位参考发光点，在样品台上装配可读数且精度为1μm的二维微调装置。通过调节微调装置在显微成像装置下观测并精确测量定位参考发光点中心和样品目标区域的相对位移。通过监测光学探针接受到的光强，调节光学探针到定位参考发光点中心处，进一步根据定位参考发光点中心和样品目标区域的相对位移，调节光学探针到样品目标区域实施扫描成像。用于近场扫描光学显微镜光学探针在样品目标区域的定位，可通过显微镜大范围搜索关心的目标区域，再调整探针到目标区域扫描成像，实现NSOM定位扫描成像，定位精度可达到1μm，且结构简单。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104568863A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201310524507.2
申请日：2013-10-28
Applicant: 南开大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明公开了一种能够检测磁颗粒聚集荧光的装置。本发明是利用小磁柱聚集荧光标记的磁颗粒，形成小磁柱圆面积大小且几乎无堆叠的磁颗粒面，利用长工作距离物镜收集由激光激发磁颗粒面发出的荧光，通过光电检测模块测量荧光强度，用计算机记录并处理数据。小磁柱将磁颗粒束缚在较大的区域面积内，由于磁颗粒本身不足以覆盖这个面积，所以减少了磁颗粒的堆叠。而且长工作距离物镜具有较大的收集面积，可以收集到全部磁珠束缚面积的荧光，并保证了倾斜激发光能够照射到样品面。总之，磁颗粒荧光聚集检测装置，既能够利用磁颗粒荧光聚集带来的荧光增强效果，又减少了磁颗粒堆叠带来的损失，又能将较大面积的荧光全部收集，提高了荧光的收集效率。
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公开(公告)号：CN102590142A
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN201210062142.1
申请日：2012-03-12
Applicant: 南开大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 一种物质折射率分布的测定方法，基于全内反射原理，使用柱面镜将光线会聚，使光线聚焦在折射率已知的棱镜和待测物质的接触面的一条水平直线上，使用面阵电荷耦合器件测量反射光强分布，利用计算机进行控制、采集、存储、处理数据，进而得到物质在会聚光聚焦处一条线上的折射率。棱镜和样品放置在高度可调的升降台上，通过调节升降台高度，改变会聚光聚焦在样品上的位置，进而可以得到物质的折射率分布。本发明适用于研究复杂样品的折射率分布性质。
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公开(公告)号：CN1405835A
公开(公告)日：2003-03-26
申请号：CN02149291.3
申请日：2002-11-14
Applicant: 南开大学
Abstract: 一种扫描探针显微镜压电扫描器的电压配置方式，属于扫描探针显微镜技术领域。现有技术相对的电极对分别施加符号相反的电压，需要两套稳压工作电源(正电源，负电源)，两套电源匹配不好或因环境引起的热漂移和噪声不同将影响扫描器的驱动电路信号处理，使电极电压轻度失调，进一步引起扫描成像畸变。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：电极对采取互补配置方式，压电扫描器电极对所加电压为V+和V+*，在扫描过程中通过电子控制系统控制V++V+*＝Vset，Vset为系统设定的控制扫描范围的电压，用于扫描探针显微镜压电扫描器电极的电压配置，简化电路，提高扫描器稳定性，减小畸变，增加扫描器动态范围。
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公开(公告)号：CN104568838A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201310524601.8
申请日：2013-10-28
Applicant: 南开大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种能够测量宽光谱范围物质色散的装置。本发明是利用计算机控制步进电机转动丝杠，带动一端固定在丝杠上的牵引臂，使其牵引与牵引臂的另一端相连的入射臂，从而改变入射臂上的细准直宽带平行入射光在柱棱镜——样品面的入射角，另一个牵引臂牵引与其相连的出射臂，使出射臂上的光谱仪的光纤探头实时测量当前入射角下由样品——柱棱镜面的反射光谱强度，再根据导数全内反射法确定全反射临界角，计算并得到每个波长下样品的折射率，组成色散曲线。优点在于测量只需要进行单次一系列角度下的光谱测量，就能够计算得到宽光谱范围待测物质的色散，具有结构简单，精度高，并且自动化的特点。本发明提供的装置方法具有很强的实用性。
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公开(公告)号：CN102590142B
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：CN201210062142.1
申请日：2012-03-12
Applicant: 南开大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 一种物质折射率分布的测定方法，基于全内反射原理，使用柱面镜将光线会聚，使光线聚焦在折射率已知的棱镜和待测物质的接触面的一条水平直线上，使用面阵电荷耦合器件测量反射光强分布，利用计算机进行控制、采集、存储、处理数据，进而得到物质在会聚光聚焦处一条线上的折射率。棱镜和样品放置在高度可调的升降台上，通过调节升降台高度，改变会聚光聚焦在样品上的位置，进而可以得到物质的折射率分布。本发明适用于研究复杂样品的折射率分布性质。
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