一种阻变存储器及其制备方法

    公开(公告)号:CN114883484B

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202210285359.2

    申请日:2022-03-23

    Abstract: 本发明公开了一种基于材料MoS2‑xOx的阻变存储器及其制备方法,阻变存储器包括由下至上依次设置的Ti/Au底电极层、MoS2‑xOx层、Ti/Au顶电极层,采用Ti作为顶部接触电极,金属Au作为底部接触电极。制备包括:在SiO2/Si硅片衬底上制备Ti/Au底电极;制备MoS2‑xOx层,制备Ti/Au顶电极。通过外加电压,Ti和阻变层间形成了氧富集层,器件从低阻态转变为高阻态。当加反向电压时,氧富集层中的氧回到初始状态,器件从高阻态转变成为低阻态。这种可逆的氧化过程通过控制金属/氧化物界面的离子的含量,可以实现更实用、更有效的阻变效应,在阻变存储器件中具有广阔的应用前景。

    一种阻变存储器及其制备方法

    公开(公告)号:CN114883484A

    公开(公告)日:2022-08-09

    申请号:CN202210285359.2

    申请日:2022-03-23

    Abstract: 本发明公开了一种基于材料MoS2‑xOx的阻变存储器及其制备方法,阻变存储器包括由下至上依次设置的Ti/Au底电极层、MoS2‑xOx层、Ti/Au顶电极层,采用Ti作为顶部接触电极,金属Au作为底部接触电极。制备包括:在SiO2/Si硅片衬底上制备Ti/Au底电极;制备MoS2‑xOx层,制备Ti/Au顶电极。通过外加电压,Ti和阻变层间形成了氧富集层,器件从低阻态转变为高阻态。当加反向电压时,氧富集层中的氧回到初始状态,器件从高阻态转变成为低阻态。这种可逆的氧化过程通过控制金属/氧化物界面的离子的含量,可以实现更实用、更有效的阻变效应,在阻变存储器件中具有广阔的应用前景。

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