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发明公开
集成TDC的双精度相位调节亚采样锁相环审中-实审

公开(公告)号：CN119010892A

公开(公告)日：2024-11-22

申请号：CN202411073495.0

申请日：2024-08-06

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 安欣悦 , 汤加跃 , 张瑛 , 赵宇 , 任静 , 梁玉佳

IPC: H03L7/089 , H03L7/081 , H03M1/60

Abstract: 本申请涉及一种集成TDC的双精度相位调节亚采样锁相环，所述锁相环包括辅助频率锁定环路、亚采样锁相环路及TDC相位处理模块，其中，亚采样锁相环路包括依次相连的亚采样鉴相器、亚采样电荷泵、环路滤波器以及压控振荡器；辅助频率锁定环路包括带死区鉴相器和电荷泵，TDC相位处理模块包括两个m_bit串行寄存器、低精度延时链和高精度延时链模块，减小环路相位对齐所需的时间；本发明利用TDC测量反馈时钟和参考时钟之间的相位差，并根据这些测量结果通过低精度和高精度双路延时链减小相差，实现快速而精确的锁定。

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