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公开(公告)号:CN112713240A
公开(公告)日:2021-04-27
申请号:CN202110125771.3
申请日:2021-01-29
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明公开了一种基于二维材料的反对称磁电阻器件制备方法,首先制备金属电极;采用匀胶机在硅衬底上旋涂PMMA,用电子束曝光机曝光硅衬底,在EBL系统上设计出输运测量结构区域,并进行曝光;将曝光后的硅衬底放置于显影液中进行显影操作,然后放置于异丙醇中定影;在定影后的硅衬底上蒸镀Ti/Au金属层,并在丙酮中剥离,获取金属电极;然后筛选出厚度不均匀的Fe3GeTe2纳米级厚度薄片,用二维材料转移平台先后将Fe3GeTe2和hBN转移至带有金属电极的硅衬底上;本发明通过筛选出厚度不均匀的Fe3GeTe2纳米级厚度薄片制备出自旋电子学器件,可以实现器件在高中低三个阻态的调节,解决了当下多阻态磁存储器件中器件制备环节繁琐,容错率低的问题。
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公开(公告)号:CN112713240B
公开(公告)日:2022-07-22
申请号:CN202110125771.3
申请日:2021-01-29
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明公开了一种基于二维材料的反对称磁电阻器件制备方法,首先制备金属电极;采用匀胶机在硅衬底上旋涂PMMA,用电子束曝光机曝光硅衬底,在EBL系统上设计出输运测量结构区域,并进行曝光;将曝光后的硅衬底放置于显影液中进行显影操作,然后放置于异丙醇中定影;在定影后的硅衬底上蒸镀Ti/Au金属层,并在丙酮中剥离,获取金属电极;然后筛选出厚度不均匀的Fe3GeTe2纳米级厚度薄片,用二维材料转移平台先后将Fe3GeTe2和hBN转移至带有金属电极的硅衬底上;本发明通过筛选出厚度不均匀的Fe3GeTe2纳米级厚度薄片制备出自旋电子学器件,可以实现器件在高中低三个阻态的调节,解决了当下多阻态磁存储器件中器件制备环节繁琐,容错率低的问题。
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