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公开(公告)号：CN104749788A
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201310723857.1
申请日：2013-12-25
Applicant: 南京理工大学
IPC: G02B27/28
CPC classification number: G02B27/285
Abstract: 本发明公开了一种实现全斯托克斯偏振成像的分束器，包括部分偏振分光棱镜、直角棱镜、第一相位延迟器、第二相位延迟器、第一Wollaston棱镜、第二Wollaston棱镜；部分偏振分光棱镜为立方体，直角棱镜的包含两条长直角边的面与部分偏振分光棱镜的侧面固定，重合的面形状和大小完全相同，部分偏振分光棱镜的胶合面与直角棱镜包含两条斜边的面平行；第二相位延迟器夹在直角棱镜和第二Wollaston棱镜之间，紧贴直角棱镜包含两条短直角边的面，第一相位延迟器夹在部分偏振分光棱镜和第一Wollaston棱镜之间，且紧贴第二相位延迟器。本发明系统结构紧凑轻小；单次测量便可获得探测目标全Stokes偏振信息图像。
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公开(公告)号：CN104748855A
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201310728659.4
申请日：2013-12-25
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明提供一种双通道高通量干涉成像光谱装置及方法，该装置包括前置光学系统、双通道横向剪切分束系统、第一成像系统和第二成像系统；入射光经前置光学系统，确定目标视场，消除杂散光并形成准直光束，进入双通道横向剪切分束系统，经两个光通道出射，每个通道的出射光被横向剪切，进而引入光程差信息；在两个成像系统的成像物镜后焦面处的探测器靶面上得到携带干涉条纹的目标图像，提取干涉信息，对其进行傅里叶变换,复原目标图像，得到目标各点的光谱信息及各个谱段的二维图像信息。本发明具有高光通量、实现双通道成像的特点；利用双通道光束的横向剪切干涉原理，可以实现双视场拼接进行大画幅成像，也可以实现可见光和红外的双通道成像。
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公开(公告)号：CN104568150A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201310480872.8
申请日：2013-10-15
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01J3/447
Abstract: 本文发明公开了一种基于微偏振阵列的干涉成像全偏振光谱探测装置及方法，该装置沿光路方向依次放置前置成像物镜、准直物镜、Sagnac横向剪切分束器、成像物镜、微偏振调制阵列、探测器和信号处理系统。方法步骤为：第一步，入射光经过前置成像物镜成像，随后光束经过准直物镜准直。第二步，准直光束被Sagnac横向剪切分束器横向剪切；第三步，剪切光束经成像物镜到达微偏振调制阵列，同一物点对应四个偏振象元，通过推扫在探测器靶面获取场景中的四组干涉图像；第四步，信号处理系统经过光谱复原、偏振信息重构后获取场景的二维光强信息、光谱信息及各谱段的全偏振参量。该方法具有高光谱分辨率、高目标分辨率以及同步获取全偏振信息的优点。
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公开(公告)号：CN102680101B
公开(公告)日：2014-03-19
申请号：CN201210157888.0
申请日：2012-05-18
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种干涉光场成像高光谱全偏振探测装置，包括顺序配置的前置光学望远系统、横向剪切干涉系统、光场成像系统、面阵探测器和信号处理系统，被探测目标光线依次通过所述前置光学望远系统、横向剪切干涉系统、光场成像系统，到达面阵探测器，信号处理系统从面阵探测器提取被探测目标的二维空间图像、高光谱信息和全Stokes偏振分量。利用本探测装置，单次测量便可得到目标二维空间光强信息、目标各点全Stokes偏振分量、目标各点高分辨率的光谱信息，且结构简单。
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公开(公告)号：CN104748855B
公开(公告)日：2017-08-04
申请号：CN201310728659.4
申请日：2013-12-25
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明提供一种双通道高通量干涉成像光谱装置及方法，该装置包括前置光学系统、双通道横向剪切分束系统、第一成像系统和第二成像系统；入射光经前置光学系统，确定目标视场，消除杂散光并形成准直光束，进入双通道横向剪切分束系统，经两个光通道出射，每个通道的出射光被横向剪切，进而引入光程差信息；在两个成像系统的成像物镜后焦面处的探测器靶面上得到携带干涉条纹的目标图像，提取干涉信息，对其进行傅里叶变换,复原目标图像，得到目标各点的光谱信息及各个谱段的二维图像信息。本发明具有高光通量、实现双通道成像的特点；利用双通道光束的横向剪切干涉原理，可以实现双视场拼接进行大画幅成像，也可以实现可见光和红外的双通道成像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103424190B
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201310389869.5
申请日：2013-09-02
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明提供一种双楔板色散剪切干涉超光谱成像装置及方法,该装置包括前置光学系统、双楔色散板Sagnac横向剪切分束系统、成像系统和信号处理系统；入射光进入前置光学系统，确定目标视场，消除杂散光并形成准直光束，进入双楔色散板Sagnac横向剪切分束系统，光被横向剪切，由于双楔板的色散作用，剪切距离随着光波长而变化，引入随波数变化的光程差信息进入成像系统，在成像物镜后焦面处的探测器靶面上得到携带干涉条纹的目标图像，旋转横向剪切分束器或整个系统获取目标各点不同光程差下的干涉信息，信号处理系统对干涉信息进行傅里叶变换，得到超分辨率的光谱信息及各个谱段的二维图像信息；本发明具有超光谱分辨率、高光通量、高目标分辨率的优点。
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公开(公告)号：CN103076092B
公开(公告)日：2014-11-12
申请号：CN201210579522.2
申请日：2012-12-28
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种提高光谱分辨率的干涉成像光谱的装置及方法，该装置包括沿光路依次放置的前置光学系统、色散平板Sagnac横向剪切分束系统、成像系统和信号处理系统；目标各点的入射光进入前置光学系统，消除杂散光并形成准直光束；随后进入色散平板Sagnac横向剪切分束系统，光被横向剪切分束系统横向剪切，由于平板色散作用，剪切距离随着光波长而变化，进而引入随波数变化的光程差信息；剪切开的两束光随后进入成像系统；通过旋转横向剪切分束器或者旋转整个系统获取目标各点不同光程差下的干涉信息；对获取的目标物点干涉信息进行离散傅里叶变换，得到高分辨率的光谱信息和各谱段的二维图像信息；本发明具有高光谱分辨率、高光通量、高目标分辨率等优点。
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公开(公告)号：CN102879098B
公开(公告)日：2014-05-14
申请号：CN201210360920.5
申请日：2012-09-19
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 一种窄带高光谱的快速干涉成像方法及装置，本方法第一步，根据探测波段和选用的带通滤光片计算出干涉成像光谱仪干涉信息的压缩采样频率；第二步，利用计算得到的采样频率对干涉信息进行压缩采样；第三步，对压缩采样后的干涉信息进行傅里叶变换，获取目标探测波段内的光谱信息。本装置利用该方法对窄带波段目标进行成像光谱探测，包括共轴设置的滤光片组件，干涉成像光谱仪、面阵探测器和与之连接的信号处理系统。本发明解决了现有干涉高光谱成像装置在探测窄带波段时存在的计算冗余的问题，可以实现窄带波段的快速干涉成像光谱探测。
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公开(公告)号：CN103424190A
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN201310389869.5
申请日：2013-09-02
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明提供一种双楔板色散剪切干涉超光谱成像装置及方法,该装置包括前置光学系统、双楔色散板Sagnac横向剪切分束系统、成像系统和信号处理系统；入射光进入前置光学系统，确定目标视场，消除杂散光并形成准直光束，进入双楔色散板Sagnac横向剪切分束系统，光被横向剪切，由于双楔板的色散作用，剪切距离随着光波长而变化，引入随波数变化的光程差信息进入成像系统，在成像物镜后焦面处的探测器靶面上得到携带干涉条纹的目标图像，旋转横向剪切分束器或整个系统获取目标各点不同光程差下的干涉信息，信号处理系统对干涉信息进行傅里叶变换，得到超分辨率的光谱信息及各个谱段的二维图像信息；本发明具有超光谱分辨率、高光通量、高目标分辨率的优点。
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公开(公告)号：CN103033265A
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN201210563394.2
申请日：2012-12-21
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明提供一种空间外差干涉超光谱成像装置及方法，该装置包括沿光路方向依次设置的前置物镜、狭缝、准直物镜、光栅型迈克尔逊干涉系统、后置成像系统和信号处理系统。目标入射光经过前置物镜，并在狭缝处成像；出射光经过准直物镜后进入光栅型迈克尔逊干涉系统，被分成两个干涉的平面波形成干涉条纹；依次经过成像物镜、柱面镜，在探测器靶面上得到携带有一维空间信息和干涉信息的图像，通过推扫目标获取二维场景的光强信息和每列的干涉信息；信号处理系统提取不同光程差下的干涉数据，并进行傅里叶变换获取目标光谱信息及各个谱段的二维图像信息。本发明能够提高现有干涉光谱成像装置的光谱分辨率，进行亚纳米量级的超光谱分辨率的面探测。
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