硅基光子分子的设置与制备方法

    公开(公告)号:CN101114102A

    公开(公告)日:2008-01-30

    申请号:CN200710025127.9

    申请日:2007-07-13

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 硅基光子分子的设置方法,以气相共形薄膜生长制备的光子分子,在玻璃和硅衬底设有直径尺寸为0.5-5μm,高度为0.4-2μm的柱形平台,并以共形薄膜生长方法制备含两个或多个有源层为a-SiNz的三维限制微腔结构:即形成两个有源层的三维DBR限制结构的微腔;设有两个DBR位于两个有源层两侧微腔的谐振波长为λ,DBR包括4±10个周期的中低折射率层和高折射层的a-SiNx和a-SiNy薄膜,每个折射层厚度为λ/4n);n是折射率,有源层是折射率在低折射率层和高折射层的折射率之间a-SiNz薄膜,厚度为λ/(2n);两个有源层之间的距离为m个周期,DBR的厚度d=m×L,m为0.5-9.5,L为一个周期高低折射率薄膜的厚度。

    硅基短波长发光二极管及其制备方法

    公开(公告)号:CN100442561C

    公开(公告)日:2008-12-10

    申请号:CN200610098062.6

    申请日:2006-11-29

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明涉及一种硅基短波长发光二极管,同时还涉及其制备方法,属于纳米电子和纳米光电子器件材料技术领域。本发明的发光二极管在P+的硅基底上沉积有由相邻层氮组分有明显差异a-SiNx:H薄膜构成的第一组光学微腔;在第一组光学微腔上构筑有所需层数a-Si:H/SiO2多层膜构成的发光有源层;在发光有源层上沉积由相邻层氮组分有明显差异a-SiNx:H薄膜构成的第二组光学微腔;在第二组光学微腔上淀积金薄膜电极,并留有窗口。采用本发明后,可以与当前微电子工艺技术相兼容,能够显现出由于尺寸变化而引起的量子效应,达到调控低维有序体系结构和性能的目的,使非晶硅量子点走出实验室,切实应用于未来的硅基纳米光电子学器件。

    硅基光子分子的设置与制备方法

    公开(公告)号:CN100504564C

    公开(公告)日:2009-06-24

    申请号:CN200710025127.9

    申请日:2007-07-13

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 硅基光子分子的设置方法,以气相共形薄膜生长制备的光子分子,在玻璃和硅衬底设有直径尺寸为0.5-5μm,高度为0.4-2μm的柱形平台,并以共形薄膜生长方法制备含两个或多个有源层为a-SiNz的三维限制微腔结构:即形成两个有源层的三维DBR限制结构的微腔;设有两个DBR位于两个有源层两侧微腔的谐振波长为λ,DBR包括4±10个周期的中低折射率层和高折射层的a-SiNx和a-SiNy薄膜,每个折射层厚度为λ/(4n);n是折射率,有源层是折射率在低折射率层和高折射层的折射率之间a-SiNz薄膜,厚度为λ/(2n);两个有源层之间的距离为m个周期,DBR的厚度d=m×L,m为0.5-9.5,L为一个周期高低折射率薄膜的厚度。

    气相共形薄膜生长制备光子量子点的方法

    公开(公告)号:CN100464472C

    公开(公告)日:2009-02-25

    申请号:CN200710020973.1

    申请日:2007-04-05

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 气相共形薄膜生长制备的光子量子点,在玻璃和硅衬底先设有横向尺寸为0.5-5μm,高度为0.4-2μm的柱形平台;在其上设有以共形薄膜生长制备有源层为a-SiNz的受DBR三维限制微腔;其中设有两个DBR位于有源层两侧,微腔的谐振波长为λ,DBR包括6±2个周期的低折射率层和高折射层的a-SiNx/a-SiNy薄膜,每个折射层厚度为λ/(4n);n是折射率,有源层是折射率在低折射率层和高折射率层之间a-SiNx薄膜,厚度为λ/(2n)。

    气相共形薄膜生长制备光子量子点的方法

    公开(公告)号:CN101030695A

    公开(公告)日:2007-09-05

    申请号:CN200710020973.1

    申请日:2007-04-05

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 气相共形薄膜生长制备的光子量子点,在玻璃和硅衬底先设有横向尺寸为0.5-5μm,高度为0.4-2μm的柱形平台;在其上设有以共形薄膜生长制备有源层为a-SiNz的受DBR三维限制微腔;其中设有两个DBR位于有源层两侧,微腔的谐振波长为λ,DBR包括6±2个周期的低折射率层和高折射率层的a-SiNx/a-SiNy薄膜,每个折射层厚度为λ/(4n);n是折射率,有源层是折射率在低折射率层和高折射率层之间a-SiNx薄膜,厚度为λ/(2n)。

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